顯示屏視場角測量系統在相對色溫（CCT）測試中扮演著至關重要的角色。傳統的光學測量通常在屏幕正前方進行，無法反映用戶在不同角度觀看時色彩一致性的真實體驗。該系統通過高精度的機械結構與多角度光譜輻射計，可準確測量顯示屏在各個視角下的色度坐標，并據此計算出不同視角下的相對色溫值。這有效揭示了屏幕隨視角增大可能出現的色溫漂移現象（如偏藍或偏黃）。測試數據為評估和改進顯示屏的光學設計、膜材搭配及驅動算法提供了關鍵依據，助力廠商提升產品在全視角下的色彩穩定性與視覺舒適度，**終滿足高精尖顯示領域對畫質一致性的嚴苛要求。蘇州千宇光學科技有限公司為您提供近眼顯示測量方案 ，有需要可以聯系我司哦！上海色域近眼顯示測量方案供應商

視場角色域測量系統是一款高度集成的光學測量平臺，其重要能力在于能夠同步測量亮度（或光度）和色度隨觀察角度的連續變化分布。該系統通過高精度機械轉臺，將光譜輻射計或成像色度計在屏幕前方的半球空間內進行精密定位，模擬人眼在所有可能位置的觀測角度。在測試過程中，顯示屏會依次呈現特定測試畫面（如全白場用于亮度測試，紅、綠、藍單色場用于色域測試）。探測器在每個預設的方位角和俯仰角上， simultaneously 捕獲目標的***亮度（單位為cd/m2或nits）和色度坐標（如CIE x, y）。**終，軟件將所有這些數據點與空間角度進行映射與擬合，生成極為關鍵的“亮度-角度”分布曲線和“色域覆蓋率-角度”分布曲線，從而在一臺設備上一次性獲取評估顯示品質的兩大**維度數據。萍鄉AR VR MR成像質量近眼顯示測量方案批發蘇州千宇光學科技有限公司致力于提供近眼顯示測量方案 ，有需求可以來電咨詢！

在動態圖像性能測量方面，近眼顯示測量系統展現出的技術能力。系統能夠評估顯示設備在運動場景下的表現，包括響應時間、運動模糊和刷新率同步等關鍵參數。通過高速圖像采集和時序分析，系統可以精確測量像素切換特性，識別拖影和重影現象。這種測量對于VR設備尤其重要，因為運動模糊會直接影響用戶的沉浸體驗甚至引發眩暈感。系統還能夠測試不同亮度級和色溫設置下的顯示性能變化，為自適應顯示算法的開發提供數據支持，確保設備在各種使用環境下都能保持的圖像質量。

顯示屏視場角測量系統在測量亮度和色度角度分布的能力，在顯示設備的研發與質量管控中具有無可替代的價值。對于研發工程師而言，系統提供的完整數據是優化面板光學架構的直接依據。例如，通過分析亮度分布圖，可以評估增亮膜（BEF）、棱鏡片的光學效率與視角均勻性；通過分析色域分布圖，可以判斷量子點材料、彩色濾光片及液晶模式在不同視角下的色彩穩定性，從而針對性地改進材料與設計，改善大視角下的色偏和亮度衰減問題。在質量管控端，該系統是執行嚴苛規格驗證的***工具。產品標準不僅可以規定“正視角下亮度須達XXX nits，色域覆蓋XX% DCI-P3”，更能精確規定“在±30度視角時，亮度衰減不得高于50%，色域覆蓋率下降不得低于15%”。這確保了高精尖顯示產品，如旗艦電視、車載屏幕和VR頭顯，能為處于不同觀看角度的用戶提供一致、***的視覺體驗，是實現品質均一性的關鍵保障。蘇州千宇光學科技有限公司為您提供近眼顯示測量方案 ，歡迎新老客戶來電！

顯示屏視場角測量系統在色域測量中的應用，超越了傳統正對屏幕的靜態測試，揭示了色彩性能隨觀察角度變化的動態特性。該系統通過高精度二軸轉臺，將光譜輻射計或色度計在屏幕前方的半球空間內進行多角度定位，準確測量每個視角下屏幕顯示基色（紅、綠、藍）和白點的色度坐標。其重要價值在于，它能繪制出“色域覆蓋率-視角”的變化曲線，精確量化色偏（Color Shift）現象。例如，VA液晶屏在較大視角下常出現色飽和度下降和gamma曲線失真，導致sRGB或DCI-P3色域覆蓋率明顯降低。該系統提供的全空間色域數據，是評價部分精尖顯示產品，尤其是手機、車載屏和電視視覺一致性的黃金標準，為優化面板設計與光學膜材提供了無可替代的數據支撐。蘇州千宇光學科技有限公司致力于提供近眼顯示測量方案 ，歡迎您的來電哦！萍鄉AR VR MR成像質量近眼顯示測量方案批發

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在動態MTF測量方面，近眼顯示測量系統展現出獨特的技術優勢。系統能夠測量不同視場位置和眼動范圍（Eyebox）內的MTF變化，評估光學系統的性能一致性。通過精密的角度調整裝置，系統可以模擬人眼在不同視角下的觀察狀態，獲取視場中心與邊緣區域的MTF分布圖。這種測量特別重要于識別光學系統的場曲和像散問題，指導透鏡組的設計優化。對于AR設備而言，動態MTF測量確保了虛擬信息在不同視角下都能保持清晰的顯示效果，提升了現實與虛擬融合的視覺質量。上海色域近眼顯示測量方案供應商

千宇光學專注于偏振光學應用、光學解析、光電探測器和光學檢測儀器的研發與制造。主要事業涵蓋光電材料、光學顯示、半導體、薄膜橡塑、印刷涂料等行業。 產品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學測試需求，并于國內率先研發相位差測試儀打破國外設備壟斷，目前已廣泛應用于全國光學頭部品牌及其制造商

千宇光學研發中心由光學博士團隊組成，掌握自主的光學檢測技術, 測試結果可溯源至國家計量標準。與國家計量院、華中科技大學、東南大學、同濟大學等高校建立產學研深度合作。千宇以提供高價值產品及服務為發展原動力， 通過持續輸出高速度、高精度、高穩定的光學檢測技術，優化產品品質，成為精密光學產業有價值的合作伙伴。