EX-SMART-F 系列光纖式紅外測溫儀配備 3 路模擬量輸出，支持 4mA~20mA、0mA~20mA、0V~5V、0V~10V 四種類型切換，輸出分辨率 16bit，電流環最大負載 600Ω，電壓輸出允許電流 10mA，可無縫對接 PLC、DCS 等工業自動化系統，實現溫度數據實時傳輸與閉環控制。模擬量輸出配置靈活，AO1 與測溫模式（雙色 / 單色寬 / 窄波段）及測量方式（峰值 / 谷值 / 平均值 / 實時值）聯動，AO2 固定輸出單色寬波段實時溫度，AO3 固定輸出單色窄波段實時溫度，滿足多維度數據采集需求。參數設置需明確起始值（Analog Start）與終點值（Analog End），默認適配儀表測溫上下限，也可自定義區間，例如監測 1400℃~1600℃的水泥窯溫度，可設起始值 1400℃、終點值 1600℃，此時 4mA 對應 1400℃、20mA 對應 1600℃，通過電流變化準確反映溫度波動。模擬量測試功能（Analog Test）便于調試，開啟后（10 分鐘自動關閉）輸出固定信號（如 4mA~20mA 模式輸出 12mA），快速檢測接線是否正常。輸出與電源輸入、數字通訊接口相互隔離，抗干擾能力強，在中頻爐、高頻爐等強電磁環境中仍能穩定傳輸，配合 RS485 通訊實現參數遠程修改，提升工業控制系統的集成效率與可靠性。信號處理功能全，峰值谷值平均值皆可測。長春特制高溫計品牌

紅外測溫儀的模擬量輸出是連接設備與工業控制系統（如 PLC、DCS）的關鍵接口，通過將溫度信號轉換為標準電流或電壓信號，實現溫度的實時監控與閉環控制。常州思捷的全系列紅外測溫儀支持多種模擬量輸出類型（4~20mA、0~20mA、0~5V、0~10V），且參數可編程，適配不同控制系統的信號需求。模擬量輸出類型的選擇需根據控制系統的輸入接口與傳輸距離確定：4~20mA 電流輸出是工業優先選擇，適用于 “長距離傳輸、抗干擾” 的場景（如車間到中控室的遠距離傳輸）—— 電流信號在傳輸過程中衰減小，且抗電磁干擾能力強，即使傳輸距離超過 100 米，信號誤差仍可控制在 ±0.1% 以內。例如在水泥窯測溫中，紅外測溫儀安裝在窯頭（距離中控室 200 米），采用 4~20mA 電流輸出，將 1000℃~1500℃的溫度信號傳輸至 PLC，PLC 根據電流大小調整窯內燃料供給。0~20mA 電流輸出則適用于 “需要零點信號” 的場景，如低溫冷藏庫測溫（0℃~50℃），0mA 對應 0℃，20mA 對應 50℃，便于控制系統識別零點狀態。長春特制高溫計品牌第三代半導體長晶，紅外測溫儀管控晶體生長溫度。

STRONG系列單色紅外測溫儀以準確穩定、性價比出眾的特點，成為工業測溫的常用設備，涵蓋600℃~3000℃、150℃~3000℃等多個分段測溫范圍，適配熱軋、金屬鍛造、半導體等多元場景。其采用特殊設計的窄帶紅外濾片，能很大程度降低發射率變化對測量的影響，搭配Si或InGaAs探測器，確保±0.5%T的測量精度、0.1℃的分辨率及±2℃的重復精度。調焦范圍支持標準焦距0.45m至無窮遠可調，近焦距0.25m~0.7m，5ms快速響應（可定制至3ms）能及時捕捉溫度動態變化。瞄準系統采用高亮度綠色LED、目鏡或視頻瞄準，實現“所見即所測”。設備具備峰值、谷值、平均值信號處理功能，支持兩路可編程模擬量輸出與RS485通訊，可無縫對接工業自動化系統，在帶水冷時能適應-20℃~200℃的高溫工況。

真空爐在熱處理、半導體長晶等場景中，存在高溫、密封、電磁干擾等難題，傳統測溫設備易損壞且精度不足。思捷光電針對性推出真空爐專屬測溫方案，以STRONG系列雙色儀與MARS-F系列光纖儀為中心，實現準確穩定測溫。STRONG-SR系列雙色儀（700℃~3200℃）采用304不銹鋼防護套，帶水冷裝置可在-20℃~200℃環境工作，雙色技術不受爐內殘留水汽、灰塵影響，測量精度±0.5%T，能形成完整工藝溫度曲線。MARS-F系列光纖儀通過耐高溫光纖傳導信號，探測器遠離爐體高溫與電磁輻射，適配單晶爐、石墨化爐等場景。兩款設備均支持RS485通訊，可與真空爐控制系統聯動，為工件熱處理與晶體生長提供可靠溫度數據。水泥窯爐測溫，保障水泥強度品質。

第三代半導體長晶過程對溫度精度要求極高，微小的溫度波動（±2℃以內）就可能導致晶體缺陷，影響半導體性能。常州思捷的 STRONG 系列與 EX-SMART 系列紅外測溫儀，憑借高精度、抗干擾、適配高溫真空環境的特點，成為半導體長晶爐測溫的技術支撐。長晶爐的測溫需求集中在 “準確控溫” 與 “環境適配” 兩大方面。以碳化硅（SiC）長晶為例，長晶溫度需穩定在 2300℃左右，且爐內處于高溫真空環境，傳統接觸式測溫設備無法耐受。思捷的 STRONG-SR-7026 型號（700~2600℃）恰好適配這一需求：其采用疊層硅探測器，測量精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，能捕捉溫度的微小波動；雙色模式可抵御爐內微量粉塵（如石墨粉塵）的干擾，即使光學鏡頭有輕微污染，仍能保持測溫穩定；帶水冷版本可在爐體周邊 200℃的高溫環境下工作，確保設備自身穩定運行。STRONG 系列采用手動可調焦鏡頭，搭配消色差組合透鏡。杭州非接觸式高溫計選型指南

STRONG 系列測溫精度 0.5%，重復精度 ±2℃。長春特制高溫計品牌

半導體制造對溫度精度要求極高，思捷光電提供覆蓋晶圓加工、薄膜沉積、長晶等環節的精密測溫方案。晶圓加工階段，蝕刻與沉積溫度需控制在 ±1℃以內，EX-SMART 系列光纖雙色儀（350℃~3300℃）以 1ms 響應捕捉溫度細微變化，三模式測溫對比分析數據，抗電磁干擾設計適配光刻機等設備。第三代半導體長晶爐測溫選用 STRONG-SR 系列雙色儀（700℃~3200℃），準確監測爐內溫度，形成工藝曲線，保障晶體質量；薄膜沉積環節，MARS-G 系列（300℃~2500℃）監測沉積溫度，確保薄膜厚度均勻。設備支持以太網通訊，與半導體自動化系統聯動，實現溫度閉環控制，提升產品良率。長春特制高溫計品牌