ESPI：動態(tài)全場測量的先鋒ESPI利用激光散斑的隨機(jī)性作為信息載體，通過雙曝光或時間序列干涉圖處理，提取變形引起的相位變化。其獨(dú)特優(yōu)勢在于無需制備光柵或標(biāo)記點(diǎn)，適用于粗糙表面與動態(tài)過程測量。在航空航天領(lǐng)域，ESPI已用于檢測飛機(jī)蒙皮在氣動載荷下的振動模態(tài)與疲勞裂紋萌生。云紋干涉術(shù)：高靈敏度與高空間分辨率的平衡云紋干涉術(shù)通過交叉光柵衍射產(chǎn)生高頻云紋條紋，其靈敏度可達(dá)亞微米級，空間分辨率優(yōu)于10線對/毫米。該技術(shù)特別適用于金屬材料塑性變形、復(fù)合材料界面脫粘等微區(qū)應(yīng)變分析。例如，在碳纖維復(fù)合材料層壓板測試中，云紋干涉術(shù)可清晰捕捉層間剪切應(yīng)變集中現(xiàn)象，為結(jié)構(gòu)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。研索儀器科技光學(xué)非接觸應(yīng)變測量，高速成像技術(shù)，實(shí)時呈現(xiàn)動態(tài)應(yīng)變變化。浙江高速光學(xué)非接觸式測量裝置

近年來，DIC技術(shù)向三維化與微型化演進(jìn)。三維DIC通過雙目視覺或多相機(jī)系統(tǒng)重建表面三維形貌，消除平面DIC因出平面位移導(dǎo)致的測量誤差，在復(fù)合材料層間剪切測試中展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢。微型DIC則結(jié)合顯微成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)微米級分辨率的應(yīng)變測量，為MEMS器件、生物細(xì)胞力學(xué)研究提供利器。干涉測量以光波波長為基準(zhǔn)，通過檢測干涉條紋變化實(shí)現(xiàn)納米級位移測量。根據(jù)干涉光路設(shè)計(jì)，可分為電子散斑干涉術(shù)（ESPI）、云紋干涉術(shù)與光纖干涉術(shù)等分支。江蘇高速光學(xué)非接觸式應(yīng)變與運(yùn)動測量系統(tǒng)應(yīng)變測量的量很少能大于幾個毫應(yīng)變(ex10?3)。

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的廣泛應(yīng)用，正在重塑多個關(guān)鍵行業(yè)的研發(fā)與生產(chǎn)模式。研索儀器憑借其完善的產(chǎn)品體系與專業(yè)的技術(shù)服務(wù)，已在航空航天、汽車工程、土木工程、新能源等領(lǐng)域積累了大量案例，成為行業(yè)技術(shù)升級的重要推動者。在航空航天領(lǐng)域，安全性與輕量化是永恒的追求，研索儀器的測量技術(shù)為這一目標(biāo)提供了精確保障。其 isi-sys 激光無損檢測系統(tǒng)采用 Shearography/ESPI 技術(shù)，可對復(fù)合材料結(jié)構(gòu)進(jìn)行非破壞性強(qiáng)度檢測，識別內(nèi)部缺陷與分層損傷，無需拆解即可完成飛行器結(jié)構(gòu)的安全評估。在飛機(jī)風(fēng)洞試驗(yàn)中，VIC-3D 系統(tǒng)可實(shí)時測量不同攻角、風(fēng)速條件下機(jī)翼的動態(tài)變形，獲取關(guān)鍵部位的應(yīng)變分布與振動特性，為機(jī)翼結(jié)構(gòu)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。在火箭發(fā)動機(jī)渦輪葉片測試中，極端環(huán)境測量系統(tǒng)能夠模擬高溫高壓工況，監(jiān)測葉片在工作狀態(tài)下的變形情況，確保發(fā)動機(jī)運(yùn)行的可靠性。

研索儀器的服務(wù)理念在教育科研領(lǐng)域得到了充分體現(xiàn)。公司榮膺達(dá)索系統(tǒng) "行業(yè)貢獻(xiàn)獎"，這一榮譽(yù)正是對其在服務(wù)高校科研與教學(xué)數(shù)字化升級過程中表現(xiàn)的高度肯定。通過與高校共建聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室、參與科研項(xiàng)目攻關(guān)等方式，研索儀器不僅提供了先進(jìn)的測量設(shè)備，更深度參與到科研過程中，為科研人員提供專業(yè)的技術(shù)指導(dǎo)，助力科研成果的快速轉(zhuǎn)化。隨著科技的不斷進(jìn)步，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)正朝著更高精度、更復(fù)雜環(huán)境適應(yīng)、更智能分析的方向演進(jìn)。研索儀器將持續(xù)依托全球前沿的產(chǎn)品資源與本土化服務(wù)優(yōu)勢，在技術(shù)創(chuàng)新與行業(yè)應(yīng)用兩個維度不斷突破，為中國科研創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)升級注入更強(qiáng)動力。研索儀器光學(xué)非接觸全場應(yīng)變測量系統(tǒng)支持毫米級至百米級（如橋梁、飛機(jī)蒙皮）的跨尺度測量需求。

光學(xué)應(yīng)變測量的歷史可追溯至19世紀(jì)干涉儀的發(fā)明，但其真正從實(shí)驗(yàn)室走向工程應(yīng)用，得益于20世紀(jì)中葉激光技術(shù)、計(jì)算機(jī)視覺與數(shù)字信號處理的突破。縱觀其發(fā)展歷程，可劃分為三個階段：激光器的出現(xiàn)使高相干光源成為可能，推動了電子散斑干涉術(shù)（ESPI）與云紋干涉術(shù)的誕生。ESPI通過記錄物體變形前后的散斑干涉圖，利用條紋分析提取位移場，實(shí)現(xiàn)了全場應(yīng)變測量，但依賴膠片記錄與人工判讀，效率低下。與此同時，全息干涉術(shù)在理論層面證明了光學(xué)測量可達(dá)波長級精度，卻因防振要求苛刻而局限于靜態(tài)測量。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量就找研索儀器科技（上海）有限公司！云南全場非接觸應(yīng)變系統(tǒng)

光學(xué)三維應(yīng)變測量技術(shù)達(dá)到了非接觸性、無破壞性、精度和分辨率高以及測量速度快等特點(diǎn)。浙江高速光學(xué)非接觸式測量裝置

相位調(diào)制機(jī)制光波在傳播過程中，材料變形引起的光程差會改變其相位分布。以干涉測量為例，兩束相干光在變形表面反射后產(chǎn)生干涉條紋，條紋位移量與表面變形呈線性關(guān)系。通過相位解包裹算法，可將干涉條紋轉(zhuǎn)化為連續(xù)相位場，進(jìn)而計(jì)算應(yīng)變分布。相位調(diào)制技術(shù)具有亞波長級靈敏度，但需嚴(yán)格控溫以消除空氣折射率波動干擾。頻率調(diào)制機(jī)制多普勒效應(yīng)是頻率調(diào)制的典型體現(xiàn)。當(dāng)激光照射到運(yùn)動或變形表面時，反射光頻率會發(fā)生偏移，偏移量與表面速度成正比。激光多普勒測振儀（LDV）通過檢測頻率偏移實(shí)現(xiàn)振動速度測量，而集成多普勒效應(yīng)的應(yīng)變測量系統(tǒng)則可進(jìn)一步通過速度梯度計(jì)算應(yīng)變率。此類技術(shù)適用于高速動態(tài)過程分析，但設(shè)備成本較高且對被測表面反射率敏感。浙江高速光學(xué)非接觸式測量裝置