光學應變測量的本質是通過分析光與材料表面相互作用后的信號變化,反推材料變形信息。這一過程涉及幾何光學、物理光學與波動光學的綜合應用,其物理機制可歸納為以下三類:光強調制機制當光照射到變形表面時,表面粗糙度、傾斜角度或遮擋關系的變化會直接導致反射光強分布改變。例如,在激光散斑法中,粗糙表面反射的激光形成隨機散斑場,材料變形使散斑圖案發生位移與變形,通過分析散斑相關性即可提取應變場。此類方法對光源穩定性要求較低,但易受環境光干擾,且空間分辨率受散斑顆粒尺寸限制。研索儀器光學非接觸應變測量,實現材料變形全場高精度動態捕捉與分析。湖南VIC-Gauge 2D視頻引伸計測量系統

隨著數字孿生技術的興起,光學非接觸應變測量正從“數據采集工具”向“模型驅動引擎”演進。通過將光學測量數據實時注入數字孿生體,可實現材料變形-損傷-失效的全過程仿真,構建“感知-預測-決策”的閉環系統。例如,在風電葉片監測中,光學測量數據驅動的數字孿生模型可預測葉片裂紋擴展,指導預防性維護,降低停機損失。光學非接觸應變測量技術以其獨特的非侵入性與全場測量能力,正在重塑傳統力學測試的范式。從微觀材料表征到宏觀結構評估,從實驗室研究到工業現場應用,光學測量的邊界持續拓展。未來,隨著人工智能、物聯網與先進制造技術的融合,光學應變測量將邁向智能化、自動化與普適化新階段,為工程安全與材料創新提供更強有力的技術支撐。貴州光學數字圖像相關應變系統研索儀器VIC-3D非接觸全場變形測量系統可用于科研實驗復合材料分層失效研究,微電子封裝焊點疲勞評估。

在產業生態構建方面,研索儀器將發揮自身技術優勢,推動 "產學研用" 協同創新網絡的建設。通過與高校共建科研平臺、與企業聯合開發設備、與行業協會共建標準體系等方式,促進測量技術的標準化與規范化發展。公司將持續舉辦技術交流活動,分享前沿技術與應用案例,培育光學測量技術人才,推動整個行業的技術進步。在精密測量成為質量控制與創新研發核心競爭力的現在,光學非接觸應變測量技術已從單純的測試工具升級為推動技術進步的重要引擎。研索儀器科技(上海)有限公司憑借專業的技術引進、完善的產品布局、深度的技術整合與貼心的服務支撐,正帶領中國光學非接觸測量領域的發展方向。從微觀材料研究到大型結構檢測,從常規環境到極端條件,研索儀器正以精確的數據力量,助力中國科研突破與產業升級,在高質量發展的道路上持續賦能。
為了幫助用戶提升測量精度與效率,研索儀器還提供完善的配套產品與技術支持。公司自主研發的 VIC-Speckle 散斑制備工具,能夠制備出均勻穩定的隨機散斑圖案,為高質量測量數據的獲取奠定基礎。同時提供多種規格的標定板、光源等配套硬件,確保測量系統始終處于工作狀態。在軟件升級方面,公司會根據技術發展與用戶需求,定期推出軟件更新服務,不斷豐富數據分析功能,提升系統性能。研索儀器的服務理念在教育科研領域得到了充分體現。公司榮膺達索系統 "行業貢獻獎",這一榮譽正是對其在服務高校科研與教學數字化升級過程中表現的高度肯定。通過與高校共建聯合實驗室、參與科研項目攻關等方式,研索儀器不僅提供了先進的測量設備,更深度參與到科研過程中,為科研人員提供專業的技術指導,助力科研成果的快速轉化。研索儀器可實時、無損地獲取材料/結構表面的三維形變與應變場分布。

在材料科學與工程測試領域,應變測量是評估材料力學性能、優化結構設計的關鍵環節。傳統接觸式測量方法依賴應變片、引伸計等器件與被測物體直接接觸,不僅易干擾測試狀態、破壞樣品完整性,更難以捕捉全場變形信息。隨著工業制造向高精度、復雜化升級,光學非接觸應變測量技術應運而生,成為打破傳統局限的變革性解決方案。研索儀器科技(上海)有限公司(ACQTEC)作為該領域的領航者,以數字圖像相關(DIC)技術為關鍵,構建起覆蓋多尺度、多場景的測量體系,為科研與工業領域提供精確可靠的測試支撐。研索儀器非接觸光學測量儀具有亞微米級位移分辨率,可捕捉微小變形(如MEMS器件熱膨脹)。上海全場數字圖像相關總代理
研索儀器科技光學非接觸應變測量,高精度捕捉微小應變,數據可靠。湖南VIC-Gauge 2D視頻引伸計測量系統
光學非接觸應變測量的關鍵優勢源于其創新原理與技術特性。與接觸式測量相比,該技術通過光學系統采集物體表面圖像信息進行分析,全程無需與被測對象產生機械交互,從根本上避免了加載干擾、樣品損傷等問題。其中,數字圖像相關(DIC)技術作為主流實現方式,通過三大關鍵步驟完成精密測量:首先在物體表面制作隨機散斑圖案作為特征標記,可采用人工噴涂或利用自然紋理;隨后通過高分辨率相機在變形過程中連續采集圖像序列;借助相關匹配算法追蹤散斑灰度模式變化,計算得到三維位移場與應變場數據。這種測量方式不僅實現了從 "單點測量" 到 "全場分析" 的跨越,更將位移測量精度提升至 0.01 像素級別,為細微變形檢測提供了可能。湖南VIC-Gauge 2D視頻引伸計測量系統