針對特殊測試場景，研索儀器提供了定制化解決方案。在介觀尺度測量領域，μTS 介觀尺度原位加載系統填補了納米壓頭與宏觀加載設備之間的技術空白，通過 DIC 技術與顯微鏡結合，可獲取局部應變場的精細數據；面對極端環境需求，MML 極端環境微納米力學測試系統能在真空環境下 - 100℃至 1000℃的溫度范圍內實現納米級力學測試，攻克了惡劣條件下的測量難題。此外，紅外 3D 溫度場耦合 DIC 系統、3D Micro-DIC 顯微測量系統等特色產品，進一步拓展了測量技術的應用邊界。研索儀器VIC-3D非接觸全場變形測量系統非接觸適應性強，可兼容金屬、復合材料、生物軟組織等各類材質。湖南三維全場數字圖像相關技術測量裝置

人工智能賦能的數據處理傳統光學測量數據處理依賴人工特征提取與參數調優，效率與泛化能力受限。深度學習技術的引入為這一問題提供了解決方案。例如，卷積神經網絡（CNN）可直接從原始圖像中預測應變場，處理速度較傳統DIC算法提升兩個數量級；生成對抗網絡（GAN）則可用于散斑圖案增強，提升低對比度圖像的測量精度。航空航天：復合材料結構健康監測在C919大型客機機翼壁板測試中，三維DIC系統實時采集壁板在氣動載荷下的應變分布，結合有限元模型驗證設計合理性。測試結果表明，光學測量數據與數值模擬結果吻合度超過95%，縮短了適航認證周期。上海哪里有賣數字圖像相關非接觸式應變測量系統研索儀器科技光學非接觸應變測量，全場測量無死角，獲取應變分布。

作為當前主流的技術路徑，數字圖像相關（DIC）技術的工作流程已形成標準化范式：首先在被測物體表面制備隨機散斑圖案，這一圖案如同 "光學指紋"，為后續識別提供特征標記，可通過人工噴涂、光刻或利用材料自然紋理實現；隨后采用高分辨率相機陣列同步采集變形前后的圖像序列，捕捉每一個微小形變瞬間；通過零均值歸一化互相關系數（ZNCC）等算法，追蹤散斑在圖像中的位移變化，經三維重建計算得到全場位移場與應變場數據。這種技術路徑帶來三大突破：其一，非接觸特性消除了測量器件對測試系統的力學干擾，尤其適用于軟材料、微納結構等易損傷樣品的測試；其二，全場測量能力實現了從 "點測量" 到 "面分析" 的跨越，單次測試可獲取數百萬個數據點，使變形分布可視化成為可能；其三，亞像素級測量精度突破了傳統方法的極限，位移測量精度可達 0.01 像素，配合高分辨率相機可實現納米級形變檢測。這些優勢讓光學非接觸測量成為解決復雜力學測試問題的方案。

光學非接觸應變測量的關鍵優勢源于其創新原理與技術特性。與接觸式測量相比，該技術通過光學系統采集物體表面圖像信息進行分析，全程無需與被測對象產生機械交互，從根本上避免了加載干擾、樣品損傷等問題。其中，數字圖像相關（DIC）技術作為主流實現方式，通過三大關鍵步驟完成精密測量：首先在物體表面制作隨機散斑圖案作為特征標記，可采用人工噴涂或利用自然紋理；隨后通過高分辨率相機在變形過程中連續采集圖像序列；借助相關匹配算法追蹤散斑灰度模式變化，計算得到三維位移場與應變場數據。這種測量方式不僅實現了從 "單點測量" 到 "全場分析" 的跨越，更將位移測量精度提升至 0.01 像素級別，為細微變形檢測提供了可能。研索儀器光學非接觸應變測量，實現材料變形全場高精度動態捕捉與分析。

研索儀器基于 DIC 技術構建的產品矩陣，展現了光學非接觸測量的全場景適配能力。作為美國 Correlated Solutions 公司（全球 DIC 技術創始者）的中國區合作伙伴，研索儀器引入的 VIC 系列產品涵蓋從平面到立體、從靜態到動態的全維度測量需求。VIC-2D 平面應變場測量系統以超過 1,000,000 數據點 / 秒的處理速度，支持光學畸變與 SEM 漂移校正，成為材料平面力學測試的高效工具；VIC-3D 表面應變場測量系統則實現了多尺度、多物理場的綜合測量，其行業前沿的精度與可重復性，可滿足從微觀材料到大型結構的復雜測試需求。光學非接觸應變測量就找研索儀器科技（上海）有限公司！浙江哪里有賣VIC-2D非接觸式應變與運動測量系統

光學非接觸應變測量認準研索儀器！湖南三維全場數字圖像相關技術測量裝置

隨著礦井開采逐漸向深部發展，原巖應力與構造應力不斷升高，對于圍巖力學性質和地應力分布異常、巖巷的支護設計研究至關重要。研究團隊借助研索儀器VIC-3D三維非接觸全場應變測量系統，采用相似材料模擬方法，模擬原始應力狀態下不同開挖過程和支護作用影響的深部圍巖變形破壞特征，對模型表面應變、位移進行實時監測，研究深部巖巷圍巖變形破壞過程，分析不同支護設計和開挖速度影響的圍巖變形破壞規律，為探索深部巖巷巖爆的發生和破壞規律提供指導依據。湖南三維全場數字圖像相關技術測量裝置