場曲又稱“像場彎曲”。當顯微鏡透鏡存在場曲時，整個光束的交點不與理想像點重合，雖然在每個特定點都能得到清晰的像點，但整個像平面則是一個曲面。這樣在鏡檢時不能同時看清整個像面，給觀察和照相造成困難。因此研究用顯微鏡的物鏡一般都是平場物鏡，這種物鏡已經矯正了場曲。前面所說各種像差除場曲外，都影響像的清晰度。畸變是另一種性質的像差，光束的同心性不受到破壞。因此，不影響像的清晰度，但使像與原物體比，在形狀上造成失真。高倍顯微鏡后產生的實際效果要更為清楚精確一些。廣州奧林巴斯測量顯微鏡價位

透鏡是組成顯微鏡光學系統的基本的光學元件，物鏡目鏡及聚光鏡等部件均由單個和多個透鏡組成。依其外形的不同，可分為凸透鏡(正透鏡)和凹透鏡(負透鏡)兩大類。當一束平行于光軸的光線通過凸透鏡后相交于一點，這個點稱"焦點"，通過交點并垂直光軸的平面，稱"焦平面"。焦點有兩個，在物方空間的焦點，稱"物方焦點"，該處的焦平面，稱"物方焦平面"；反之，在象方空間的焦點，稱"象方焦點"，該處的焦平面，稱"象方焦平面"。光線通過凹透鏡后，成正立虛像，而凸透鏡則成正立實像。實像可在屏幕上顯現出來，而虛像不能。廣州奧林巴斯測量顯微鏡價位只有挑選可用的光學顯微鏡才可以更強的開展觀查。

自從1965年一臺商品掃描電鏡問世以來，經過40多年的不斷改進，掃描電鏡的分辨率從一臺的25nm提高到現在的0.01nm，而且大多數掃描電鏡都能與X射線波譜儀、X射線能譜儀等組合，成為一種對表面微觀世界能夠經行全方面分析的多功能電子顯微儀器。在材料領域中，掃描電鏡技術發揮著極其重要的作用，被普遍應用于各種材料的形態結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產生過程，可以觀察金屬材料內部原子的集結方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。

顯微鏡的使用方法：取鏡和安放：右手握住鏡臂，左手托住鏡座。把顯微鏡放在實驗臺上，略偏左（顯微鏡放在距實驗臺邊緣7厘米左右處）。安裝好目鏡和物鏡。對光:轉動轉換器，使低倍物鏡對準通光孔(物鏡的前端與載物臺要保持2厘米的距離)。把一個較大的光圈對準通光孔。左眼注視目鏡內(右眼睜開，便于以后同時畫圖)。轉動反光鏡，使光線通過通光孔反射到鏡筒內。通過目鏡，可以看到白亮的視野。觀察:把所要觀察的玻片標本（也可以用印有“6”字的薄紙片制成）放在載物臺上，用壓片夾壓住，標本要正對通光孔的中心。轉動粗準焦螺旋，使鏡筒緩緩下降，直到物鏡接近玻片標本為止（眼睛看著物鏡，以免物鏡碰到玻片標本）。左眼向目鏡內看，同時反方向轉動粗準焦螺旋，使鏡筒緩緩上升，直到看清物像為止。和傳統光學放大不同，手持式顯微鏡都是數碼放大。

聚光鏡又名聚光器，裝在載物臺的下方。小型的顯微鏡往往無聚光鏡，在使用數值孔徑0.40以上的物鏡時，則必須具有聚光鏡。聚光鏡不只可以彌補光量的不足和適當改變從光源射來的光的性質，而且將光線聚焦于被檢物體上，以得到較好的照明效果。聚光鏡的的結構有多種，同時根據物鏡數值孔徑的大小 ，相應地對聚光鏡的要求也不同 。阿貝聚光鏡：這是由德國光學大學大師設計。阿貝聚光鏡由兩片透鏡組成，有較好的聚光能力，但是在物鏡數值孔徑高于0.60時，則色差，球差就顯示出來。因此，多用于普通顯微鏡上。很多顯微鏡名字很類似，但工作原理區別很大。廣州奧林巴斯測量顯微鏡價位

明視野鏡檢是大家比較熟悉的一種鏡檢方式。廣州奧林巴斯測量顯微鏡價位

無論您是經常使用顯微鏡還是偶爾只用一次都請您在使用時，一定要正確操作，小心謹慎。操作粗心或操作方法錯誤會引起儀器的損壞。以下各項請您在使用中一定要引起足夠的重視：微調是顯微鏡機械裝置中較精細而又容易損壞的元件，擰到了限位以后，就擰不動了。此時，決不能強擰。否則，必然損壞。調焦時，遇到這種情況，應將微調退回3～5圈，重用粗調調焦，待初見物像后，再改用微調。如能事先將微調調至中間位置（一般在微動燕尾的側面上刻有位置標記“-=”，當微動燕尾上的單線對著兩橫線的中間時，微調即處于中間位置），使正反兩個方向都有大體相等的調節余量，當然更好。廣州奧林巴斯測量顯微鏡價位

深圳市寶安區沙井大通儀器設備經營部正式組建于2009-03-25，將通過提供以檢測儀，測量儀，三次元，顯微鏡等服務于于一體的組合服務。旗下奧林巴斯,尼康,日本優能在儀器儀表行業擁有一定的地位，品牌價值持續增長，有望成為行業中的佼佼者。隨著我們的業務不斷擴展，從檢測儀，測量儀，三次元，顯微鏡等到眾多其他領域，已經逐步成長為一個獨特，且具有活力與創新的企業。值得一提的是，大通儀器致力于為用戶帶去更為定向、專業的儀器儀表一體化解決方案，在有效降低用戶成本的同時，更能憑借科學的技術讓用戶極大限度地挖掘奧林巴斯,尼康,日本優能的應用潛能。