激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測量的精密儀器。它通過將激光束分成兩部分，分別經(jīng)過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣，從而可以精確測量光程差、位移、厚度等物理量。激光干涉儀的基本原理可以概括為以下幾個步驟：激光發(fā)射：激光器發(fā)出單色光束。光束分割：通過分束器將激光束分成兩部分，通常稱為參考光束和測量光束。光程傳播：參考光束和測量光束分別經(jīng)過不同的路徑，可能會經(jīng)過被測物體或介質(zhì)。光束合并：兩束光在分束器后重新合并，形成干涉圖樣。當(dāng)兩束不同頻率的激光光束經(jīng)過分束器分開后，經(jīng)過被測物體的反射或透射后再合并，形成干涉條紋。江蘇附近雙頻激光干涉儀單價

分類激光干涉儀主要分為單頻激光干涉儀和雙頻激光干涉儀兩種：單頻激光干涉儀：在20世紀(jì)60年代中期出現(xiàn)，**初用于檢定基準(zhǔn)線紋尺，后用于在計量室中精密測長。它對環(huán)境要求較高，周圍大氣需處于穩(wěn)定狀態(tài)，以避免空氣湍流對測量結(jié)果的影響。雙頻激光干涉儀：出現(xiàn)于1970年，適宜在車間中使用。它應(yīng)用頻率變化來測量位移，對由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強(qiáng)。雙頻激光干涉儀常用于檢定測長機(jī)、三坐標(biāo)測量機(jī)、光刻機(jī)和加工中心等的坐標(biāo)精度，也可用作測長機(jī)、高精度三坐標(biāo)測量機(jī)等的測量系統(tǒng)。三、應(yīng)用江蘇通用雙頻激光干涉儀選擇隨著激光技術(shù)和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，雙頻激光干涉儀的應(yīng)用范圍和測量精度將不斷提高。

按照干涉光來源區(qū)分干涉儀可以分成波前分解和幅度分解兩類， 其差異在于是否利用波前上不同位置的子波源形成干涉。 例如楊氏雙縫干涉即屬于波前分解干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002） [3]； 而等傾干涉和等厚干涉即為幅度分解干涉儀。干涉儀的應(yīng)用極為***，主要有如下幾方面：長度測量在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進(jìn)行長度的精確比較或***測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀**涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。

邁克爾遜干涉儀的*****應(yīng)用即是它在邁克爾遜-莫雷實驗中對以太風(fēng)觀測中所得到的零結(jié)果，這朵十九世紀(jì)末經(jīng)典物理學(xué)天空中的烏云為狹義相對論的基本假設(shè)提供了實驗依據(jù)。除此之外，由于激光干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差，在當(dāng)今的引力波探測中邁克爾遜干涉儀以及其他種類的干涉儀都得到了相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。激光干涉引力波天文臺（LIGO）等諸多地面激光干涉引力波探測器的基本原理就是通過邁克爾遜干涉儀來測量由引力波引起的激光的光程變化，而在計劃中的激光干涉空間天線（LISA）中，應(yīng)用邁克爾遜干涉儀原理的基本構(gòu)想也已經(jīng)被提出。邁克爾遜干涉儀還被應(yīng)用于尋找太陽系外行星的探測中，雖然在這種探測中馬赫-曾特干涉儀的應(yīng)用更加***。邁克爾遜干涉儀還在延遲干涉儀，即光學(xué)差分相移鍵控解調(diào)器（Optical DPSK）的制造中有所應(yīng)用，這種解調(diào)器可以在波分復(fù)用網(wǎng)絡(luò)中將相位調(diào)制轉(zhuǎn)換成振幅調(diào)制。干涉儀的應(yīng)用包括測量微小位移、折射率、波長、材料的光學(xué)特性等。

1. 同時測量線性定位誤差、直線度誤差（雙軸）、偏擺角、俯仰角和滾動角2. 設(shè)計用于安裝在機(jī)床主軸上的5D/6D傳感器3. 可選的無線遙控傳感器**長的控制距離可到25米4. 可測量速度、加速度、振動等參數(shù)，并評估機(jī)床動態(tài)特性5. 全套系統(tǒng)重量*15公斤，設(shè)計緊湊、體積小，測量機(jī)床時不需三角架6. 集成干涉鏡與激光器于一體，簡化了調(diào)整步驟，減少了調(diào)整時間7、激光干涉儀可以同時測量線性定位誤差、直線度誤差(雙軸)、偏擺角、俯仰角和滾動角等，以及測量速度、加速度、振動等參數(shù)，并評估機(jī)床動態(tài)特性等。法布里-干涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明，主要用于高精度的光譜分析。江蘇通用雙頻激光干涉儀選擇

通過分析干涉條紋的變化，可以得到被測物體的位移信息。江蘇附近雙頻激光干涉儀單價

激光平面干涉儀是基于菲索干涉原理設(shè)計的光學(xué)精密計量儀器，主要用于檢測光學(xué)元件表面面形精度和光學(xué)材料的均勻性 [1] [3-4]。該設(shè)備測量精度可達(dá)到1/10-1/100波長量級，采用半導(dǎo)體激光器（635nm）作為光源，具有防塵效果好、結(jié)構(gòu)緊湊等特點，適用于光學(xué)車間、實驗室等場景的批量檢測 [3-4]。上海乾曜光學(xué)科技有限公司與北京海富達(dá)科技有限公司均具備相關(guān)生產(chǎn)能力，其中G150M、G200M及60-LP等型號產(chǎn)品采用標(biāo)準(zhǔn)化測量口徑設(shè)計，可滿足不同使用場景需求 [2-4]。截至2025年，相關(guān)企業(yè)產(chǎn)品已服務(wù)國內(nèi)外科研院所及工業(yè)企業(yè) [2]。江蘇附近雙頻激光干涉儀單價

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