干涉圖樣分析：通過觀察干涉條紋的變化，可以獲取關于物**移、形狀、厚度等信息。激光干涉儀廣泛應用于精密測量、材料科學、光學研究、工程檢測等領域。常見的類型包括邁克爾遜干涉儀、法布里-佩**涉儀和激光位移傳感器等。由于其高精度和高靈敏度，激光干涉儀在科學研究和工業應用中都具有重要的地位。干涉儀是一種用于測量光波或其他波動現象的儀器，利用干涉原理來分析波的特性。干涉是指兩束或多束波在空間中相遇時相互疊加，形成新的波形的現象。干涉儀廣泛應用于物理學、工程學、光學等領域。在科學研究和工業檢測中，干涉儀是一種非常重要的工具。相城區耐用雙頻激光干涉儀產品介紹

折射率測定兩光束的幾何路程保持不變，介質折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。波長的測量任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀**涉儀（標準具）曾被用來確定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。相城區耐用雙頻激光干涉儀產品介紹用穩頻的氦氖激光器作為光源，由于它的相干長度很大，干涉儀的測量范圍可以擴展；

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展而來的一種外差式干涉儀，以下是對其的詳細介紹：一、基本原理雙頻激光干涉儀利用兩束頻率相近的激光，通過分束后分別作為參考光和測量光。測量光經移動目標反射后與參考光疊加產生多普勒頻移差頻信號，通過檢測差頻的變化來計算位移量。具體來說：雙頻生成：激光器產生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應或聲光調制），頻率分別為f1和f2。分束干涉：光束經分光鏡分為兩路，一路為參考光（頻率穩定），另一路為測量光（頻率經被測物**移產生多普勒頻移Δf）。

非接觸式測量：激光干涉儀可以不接觸物體表面就測量其形狀，這對于測量易碎或精細的物體非常有用。多功能性：激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作。抗干擾能力強：雙頻激光干涉儀對由光強變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強。五、注意事項與維護注意事項：儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。在移動儀器時，應托住底座以防止導軌變形。光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放以防止發霉。它通過多次反射在兩個平面鏡之間形成干涉。

另一方面，當可動棱鏡移動時，前者的干涉信號是在**亮和**暗之間緩慢變化的信號，而后者的干涉信號是使原有的交流信號頻率增加或減少了△f，結果依然是一個交流信號。因而對于雙頻激光干涉儀來說，可用放大倍數較大的交流放大器對干涉信號進行放大，這樣，即使光強衰減90%，依然可以得到合適的電信號。精度高雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。即使不做細分也可達到μm量級，細分后更可達到nm量級。應用范圍廣雙頻激光干涉儀除了可用于長度的精密測量外，配上適當的附件還可測量角度、直線度、平面度、振動距離及速度等等它通過將光束分成兩部分，分別經過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣。相城區耐用雙頻激光干涉儀產品介紹

法布里-干涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發明，主要用于高精度的光譜分析。相城區耐用雙頻激光干涉儀產品介紹

邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]相城區耐用雙頻激光干涉儀產品介紹

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