BLIQ黑體是使用三個溫度調節器構建的。

首先，標準Peltier元件能夠在約0oC至約100oC范圍內實現準確的溫度調節。

第二，液體冷卻器用于將黑體溫度降低到零度以下。

第三，當溫度超過100oC時，可選加熱器進行調節溫度。BLIQ黑體附有專業用罩。當使用干燥氮氣填充時，該罩可以保護黑體發射器免受結霜或濕氣冷凝的影響。BLIQ黑體的特點是具有優異的溫度分辨率、時間穩定性、溫度均勻性和溫度不確定性。所有這些功能使得BLIQ黑體被用作測試/校準熱成像儀/IRFPA模塊系統中的紅外輻射源的理想選擇，或國家標準實驗室的溫度標準。 INFRAMET LAFT 熱成像光電測試系 統助力科研，精細測量技術參數無憂。LUMASENSE光電測試系統設備制造

OPO測試系統為計算機化的系統，用于對被測望遠瞄準系統生成的參考圖像進行分析。OPO測試系統由以下模塊組成:TG-OP目標發生器，CTG控制器，一組靶標，一組圓孔，CPO10100投射式平行光管，MP-A機械平臺，MP-B機械平臺，MP-C平臺，DPM66屈光度計，計算機，圖像采集卡，一組孔徑調節器以及TOPO測試軟件。

產品參數如下

表1被測光學系統范圍

參數：數值

入射口徑范圍：10-60mm

出射口徑范圍：2-60mm

放大率范圍：-30x

表2測試調節范圍

參數：數值

模擬距離50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

離軸角范圍：0°-30°

LUMASENSE光電測試系統設備制造Inframet MS多傳感器測試系統，助力石化行業安全生產。

JT400軸對準測試系統外觀圖Inframet設計生產的用于測試多傳感器監控系統的MS系列測試系統不僅支持這些監控系統的擴展性測試，也支持軸對準測試。然而，MS系列測試系統是相對昂貴的測試系統。JT多傳感器軸對準測試系統是相對經濟的系統，用于**的軸對準測試以及光電多傳感器監控系統的基本參數測試。

測試功能：1.不同視場的熱像儀的軸對準；2.不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準；3.可見光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準；4.激光測距機與可見光-近紅外相機之間的軸對準；5.激光測距機與熱像儀之間的軸對準；6.激光指示器與可見光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準；7.可見光/近紅外相機的分辨率/靈敏度；8.熱像儀的分辨率；9.激光測距機的發散角；10.參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。

Ls-dAL光源是多通道標準光源，有四種工作模式，具有的動態范圍、可連續調節光強度（能夠模擬超亮的白天和黑夜）、計算機化設計，可用于測試可見光-短波紅外相機（彩色/單色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相機、短波紅外相機），用于中/遠程監測應用。

工作模式①鹵素燈，色溫2856K，模擬夜晚和典型的白天②白光LED，色溫超過5000K，模擬極亮的白天③鎬強度紫外LED，檢測抗紫外線的能力

總量度范圍10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范圍可以擴展） 光電系統，應用于電梯維護，確保運行安全。

由于各種原因，生成高分辨率融合圖像較為困難，其中一個原因是需要校正不同成像傳感器產生的圖像的畸變和放大程度的差異，優化圖像校正算法需要對所有成像傳感器均可見的已知幾何形狀的特定目標進行研究。Inframet提供支持雙通道融合圖像的棋盤式FUT靶標，能夠發射熱輻射(靶標實際上是一個調節均勻溫度的大面積輻射源)，也能反射可見光/近紅外范圍內的入射輻射。因此，無論是在中波紅外/長波紅外范圍內工作的熱像儀，還是在可見光/近紅外范圍內工作的夜視儀/相機，都可以看到相同圖像。該靶標可用于確定熱成像相對于可見光圖像的空間位移二維圖。inframetORl 光學鏡頭測試系統INFRAMET 測試系統，提升船舶制造精度與安全性。LUMASENSE光電測試系統設備制造

光電技術，為智能交通系統提供可靠信號檢測。LUMASENSE光電測試系統設備制造

TCB面源黑體用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統的模塊。具有更大發射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的單獨模塊提供。Inframet可以提供高達500x500mm的發射面的TCB黑體（型號TCB-2oD）。

但是，應該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2oD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發射面尺寸即可。 LUMASENSE光電測試系統設備制造