ORI光學鏡頭測試系統是一臺通用型光學鏡頭測試系統。該系統可以測量鏡頭的所有重要參數：MTF，分辨率，EFL，畸變，漸暈，透過率，BFL，工作焦距，焦深，場曲，色差等。可測試波段涵蓋了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于測試多波段光學系統，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。系統原理ORI測試系統原理：目標發生器放置在被測鏡頭的焦平面上形成一套投影系統，透射出的平行光入射平行光管，蕞終成像到相機的接收面上。ORI測試系統蕞大的特點是采用逆光路測量原理，較一般正光路的測量系統具有獨特的優勢。"精確熱成像，基數參數一鍵優化，夜間監控無遺漏！河北熱成像校準系統特性

為完成太空測試任務的紅外系統，通常使用模擬太空條件的低溫真空黑體進行測試。所需黑體的設計，技術上是一個挑戰，由于一系列特殊要求：在真空條件下工作的能力，承受低溫度的能力，黑體發射器溫度的準確調節，以及遠程控制位于真空室中的黑體，其控制中心位于真空室外。VSB黑體是Inframet公司根據太空實驗需求開發的新型黑體。

具備在真空室中工作的能力；能夠承受低的環境溫度；遙控距離長達50米；非常好的溫度分辨率1mK；非常好的時間穩定性：±10mK；高速，易于PC控制；發射器尺寸從50x50（VSB-2D）到150x150mm（VSB6D）；即可用于低溫真空室，也可以在正常空氣條件下使用。 LUMASENSE熱成像校準系統性價比高守護每一刻，INFRAMET LAFT 熱成像光電測試系統，基數參數精確，安全無憂！

經典熱圖像與可見光圖像的融合成像系統擁有更強的監視能力。融合系統通常使用一個多傳感器成像系統，由一個熱像儀和一個可見光相機(或夜視設備和可見光相機)組成，圖像的融合可以采用光學方法或數字圖像處理方法。由于各種原因，生成高分辨率融合圖像較為困難，其中一個原因是需要校正不同成像傳感器產生的圖像的畸變和放大程度的差異，優化圖像校正算法需要對所有成像傳感器均可見的已知幾何形狀的特定目標進行研究。Inframet提供支持雙通道融合圖像的棋盤式FUT靶標，能夠發射熱輻射(靶標實際上是一個調節均勻溫度的大面積輻射源)，也能反射可見光/近紅外范圍內的入射輻射。因此，無論是在中波紅外/長波紅外范圍內工作的熱像儀，還是在可見光/近紅外范圍內工作的夜視儀/相機，都可以看到相同圖像。該靶標可用于確定熱成像相對于可見光圖像的空間位移二維圖。

TCB黑體有一系列版本供用戶選擇使用。有兩個重要參數指標：黑體發射面的大小和溫度范圍。發射面尺寸由黑體代碼：TCB-XD表示，其中X是發射面平方的近似尺寸，單位為英寸。通常提供以下型號：TCB-2D，TCB-4D，TCB-6D，TCB-8D，TCB-12D，TCB-14D，TCB-2OD。在標準版本中，這些黑體溫度范圍從0℃至100℃進行了優化。用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統的模塊。具有更大發射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的單獨模塊提供。Inframet可以提供高達500x500mm的發射面的TCB黑體（型號TCB-2OD）。但是，應該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發射面尺寸即可。

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MS多波段整機測試系統一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。

測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。 專業校準，熱成像基數參數精確無誤，守護更周全細致！河北熱成像校準系統特性

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可見光靶標主要分為兩類：A)反射式靶標，B）透射式靶標。反射式靶標無法提供高精度的靶標圖形因此只能用于可見光成像系統簡單的評估測試。透射式靶標的精度可以達到次微米級，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF1951靶標，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機測試，也同時支持高分辨率相機測試。

產品參數：

參數：數值

圖案類型：3桿

圖案組數：0到7(可選0-8)

空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對比度：百分之二到100%

基板：鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜：鉻

靶標板尺寸：23x23mm 河北熱成像校準系統特性