TFEV測溫儀測試系統(tǒng)用于檢測發(fā)熱篩查用測溫儀。TFEV測試的概念是基于IEC80601-2-59標準中規(guī)定的“人體發(fā)熱篩檢測溫儀的基本安全性和基本性能的特殊要求”。TFEV是一個模塊化系統(tǒng)，可以工作在兩種模式：A)手動可調(diào)節(jié)尺寸的高精度黑體B)電動圖像投影系統(tǒng)，能夠投射一些參考目標的圖像，其溫度和大小可變。黑體是模擬人體的不同部位(通常是眼內(nèi)角或前額)，用于測試熱敏相機。黑體通常置于被測人體所在平面位置，和測溫儀的外部黑體(被測系統(tǒng)的一部分)在實際工作中應(yīng)該也在該平面上。TFEV是由一系列模塊組成的模塊化系統(tǒng):2.黑體適配裝置4.MRW-8電動靶輪6.靶輪用一組6個四桿靶標(MRTD測量)8.筆記本電腦10.MB1機械件12.TCB控制程序TYFEV的重點是TCB-4D黑體。它是超高精度面源黑體，可以非常準確地模擬人體的相同發(fā)射率。INFRAMET SAFT 熱成像光電測試系 統(tǒng)，全系統(tǒng)守護各行各業(yè)質(zhì)量關(guān)卡。浙江光電測試系統(tǒng)調(diào)試

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標也可用于測量。測量成像整機系統(tǒng)軸校準：電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對準：計算機控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進行激光測距儀發(fā)射光軸的校準。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。湖南光電測試系統(tǒng)使用方法高效測試，光電技術(shù)為農(nóng)業(yè)智能化護航。

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標。使用一個薄的面加熱元件來控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調(diào)節(jié)在約50攝氏度到550攝氏度之間。發(fā)射器面積可以從50x50mm到500x500mm，具體取決于型號。應(yīng)用MTB黑體可用于一系列可能的應(yīng)用：1、在中溫范圍內(nèi)測量熱像儀的精度（已知溫度的面源）。2、監(jiān)控系統(tǒng)SWIR成像儀3、用于測試SWIR/MWIRFPAs的系統(tǒng)

至高溫度：典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度，則最高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性。

MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測試系統(tǒng)，可測量多種紅外整機系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統(tǒng)等，進行系統(tǒng)測試和軸對準的測試。測試功能1.不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；2.可測量多種紅外整機系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統(tǒng)等；

MS多波段整機測試系統(tǒng)測量不同系統(tǒng)的原理如下。測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統(tǒng)生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標； 光電測量，助力地質(zhì)勘探，精確解析巖層結(jié)構(gòu)。

FAPA是一個準通用系統(tǒng)，用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器，專門為進行此類圖像傳感器開發(fā)研究的科學(xué)機構(gòu)使用而優(yōu)化。它主要用于測試完整的紅外FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀中心，但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關(guān)鍵參數(shù)(與ROIC集成之前)。此外，F(xiàn)APA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣，F(xiàn)APA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外FPA紅外傳感器、紅外FPA傳感器、熱成像儀**、熱成像儀。

FAPA是一個模塊化系統(tǒng)，由一系列模塊組成，可以配置為創(chuàng)建一系列不同的子系統(tǒng)，用于測量不同參數(shù)組。然而，F(xiàn)APA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具，2.傳感器控制/圖像處理工具，3.圖像采集/計算工具。 明策光電測試系統(tǒng)，提升鐘表制造業(yè)走時精確度。湖南光電測試系統(tǒng)使用

光電系統(tǒng)，應(yīng)用于文物展覽，確保展品安全展示。浙江光電測試系統(tǒng)調(diào)試

為完成太空測試任務(wù)的紅外系統(tǒng)，通常使用模擬太空條件的低溫真空黑體進行測試。所需黑體的設(shè)計，技術(shù)上是一個挑戰(zhàn)，由于一系列特殊要求：在真空條件下工作的能力，承受低溫度的能力，黑體發(fā)射器溫度的準確調(diào)節(jié)，以及遠程控制位于真空室中的黑體，其控制中心位于真空室外。VSB黑體是Inframet公司根據(jù)太空實驗需求開發(fā)的新型黑體。VSB黑體是設(shè)計用來在環(huán)境溫度為-173oC至-33oC的冷卻真空室中工作時，模擬低/中溫目標（-10℃至+200℃）的面源黑體。換句話說，VSB黑體是用于在太空環(huán)境條件下，模擬地球上的溫度目標。VSB黑體的發(fā)射器面積尺寸從50x50mm到150x150mm。發(fā)射器的溫度由緊貼發(fā)射器的加熱元件陣列來調(diào)節(jié)。使用超準確算法進行溫度穩(wěn)定控制。VSB黑體針對長距離控制進行了優(yōu)化，位于真空室內(nèi)的黑體可以從位于真空室外的PC控制。此外，黑體經(jīng)過優(yōu)化，可與MRW-8輪集成配套使用。浙江光電測試系統(tǒng)調(diào)試