靶標是用于測試光電成像系統時創建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標可分為兩類:1)無源靶標，2)有源靶標。無源靶標需要由黑體或標定光源產生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標通常是大型測試系統位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標的工作不需要電力供應。這些標準的小尺寸靶標作為Inframet制造的大型模塊化測試系統(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標是通過其自身的熱輻射或由人造光源發出的反射光創建參考圖案。這些目標通常是大型的單獨模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測光電成像儀可直接看到有源靶標。這些靶標用于測試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機分辨率靶標的流行解決方案。FUT系列靶標是有源靶標，通常用于測試融合成像系統或熱像儀。高效熱成像，基數參數精確調校，夜間監控更精確！廣西熱成像校準系統方案

FAPA是一個準通用系統，用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器，專門為進行此類圖像傳感器開發研究的科學機構使用而優化。它主要用于測試完整的紅外 FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀重心，但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關鍵參數(與 ROIC集成之前)。此外，FAPA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣，FAPA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外 FPA紅外傳感器、紅外 FPA傳感器、熱成像儀重點、熱成像儀。廣西熱成像校準系統方案科技守護，INFRAMET LAFT 熱成像光電測試系統，，讓夜間監控如白晝般清晰！

IR FPA 傳感器（焦平面陣列傳感器）指的是對紅外光敏感的探測器陣列，這些探測器在位于紅外光學鏡頭焦平面時，能夠生成二維電子圖像。具體來說，市場上提供的 IR FPA 傳感器是通過將紅外探測器陣列（即原始 IR FPA 傳感器）與讀取電子系統結合而成的。

FAPA是一個模塊化系統，由一系列模塊組成，可以配置為創建一系列不同的子系統，用于測量不同參數組。然而，FAPA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具，2.傳感器控制/圖像處理工具，3.圖像采集/計算工具。

ORI光學鏡頭測試系統是一臺通用型光學鏡頭測試系統。該系統可以測量鏡頭的所有重要參數：MTF，分辨率，EFL，畸變，漸暈，透過率，BFL，工作焦距，焦深，場曲，色差等。可測試波段涵蓋了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于測試多波段光學系統，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。系統原理ORI測試系統原理：目標發生器放置在被測鏡頭的焦平面上形成一套投影系統，透射出的平行光入射平行光管，蕞終成像到相機的接收面上。ORI測試系統蕞大的特點是采用逆光路測量原理，較一般正光路的測量系統具有獨特的優勢。高效熱成像，基數參數精確調校，夜間監控，一目了然！

Ls-dAL光源是多通道標準光源，有四種工作模式，具有的動態范圍、可連續調節光強度（能夠模擬超亮的白天和黑夜）、計算機化設計，可用于測試可見光-短波紅外相機（彩色/單色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相機、短波紅外相機），用于中/遠程監測應用。

工作模式①鹵素燈，色溫2856K，模擬夜晚和典型的白天②白光LED，色溫超過5000K，模擬極亮的白天③鎬強度紫外LED，檢測抗紫外線的能力

總量度范圍10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范圍可以擴展） 智能校準，熱成像更穩定，基數參數調整，守護安全每一刻！遼寧熱成像校準系統介紹

高效能熱成像，基數參數精細調校，夜視能力再升級！廣西熱成像校準系統方案

Inframet生產的離軸反射式平行光管采用垂直結構，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實現了測試系統的簡單化結構設計（只需較小、較窄的光學平臺）。而且，垂直結構的平行光管更為先進之處在于系統用于熱像儀的測試時，垂直結構的黑體溫度的均勻性要優于使用相同模塊的水平結構。

Inframet使用三個等級的離軸反射鏡面：?SR（標準分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。Inframet采用典型的保護鋁鍍膜作為反射鏡的鍍膜材料，如果在可見光-近紅外波段達到均勻的反射率，則保護鋁鍍膜可以作為次反射平面鏡或者兩面反射鏡的鍍膜材料。如果在遠紅外波段需要達到非常高的反射率則需要使用保護金作為輔助鏡（或者兩個反射鏡）的材料。我們可以根據您所需口徑和焦距精度等提供定制化平行光管，滿足您的需求。 廣西熱成像校準系統方案