杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測(cè)試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測(cè)試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測(cè)試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測(cè)試需求，目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測(cè)試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 國磊設(shè)備，幫助您提升產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性。GEN測(cè)試系統(tǒng)定制

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級(jí)MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測(cè)量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），識(shí)別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動(dòng)SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯(cuò)亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測(cè)試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級(jí)檢測(cè)+真實(shí)工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。吉安導(dǎo)電陽極絲測(cè)試系統(tǒng)工藝國磊GT600測(cè)試機(jī)模塊化16插槽架構(gòu)可同時(shí)集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實(shí)現(xiàn)HBM系統(tǒng)級(jí)混合信號(hào)測(cè)試。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測(cè)量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測(cè)試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測(cè)試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測(cè)量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測(cè)試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。

智能駕駛對(duì)高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級(jí)自動(dòng)駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺(tái)對(duì)SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）的性能、可靠性與實(shí)時(shí)性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對(duì)測(cè)試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測(cè)試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測(cè)試速率、512至2048個(gè)數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測(cè)試場(chǎng)景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。GM8800是進(jìn)行絕緣劣化試驗(yàn)的理想選擇。

    低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測(cè)試進(jìn)行預(yù)篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測(cè)量單元）和可編程浮動(dòng)電源（），能精確測(cè)量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測(cè)試資源浪費(fèi)。量子測(cè)控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺(tái)隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測(cè)控SoC”成為趨勢(shì)（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號(hào)調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測(cè)試能力、128M向量深度及400MHz測(cè)試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。 國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行電源門控測(cè)試即驗(yàn)證PowerGating開關(guān)的漏電控制效果。福州絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)尤其適用于高引腳數(shù)、高集成度、混合信號(hào)特征明顯的先進(jìn)芯片。GEN測(cè)試系統(tǒng)定制

適配多元化國產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢(shì)：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號(hào)需求。國磊（Guolei）GT600的16個(gè)通用插槽、多種VI浮動(dòng)電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測(cè)試需求，避免因測(cè)試平臺(tái)僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展，從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險(xiǎn)能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)安全 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關(guān)乎國計(jì)民生的關(guān)鍵領(lǐng)域，芯片供應(yīng)鏈安全直接關(guān)系**。國磊（Guolei）GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動(dòng)、MCU等芯片測(cè)試，未來可進(jìn)一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過部署國產(chǎn)測(cè)試設(shè)備，這些敏感芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識(shí)產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi)，杜絕信息泄露風(fēng)險(xiǎn)。GEN測(cè)試系統(tǒng)定制