國磊（Guolei）SoC測試系統，特別是其GT600高性能測試平臺，在當前全球半導體產業鏈高度競爭與地緣***風險加劇的背景下，對保障中國半導體及**制造領域的供應鏈安全具有戰略意義。打破**ATE設備進口依賴 自動測試設備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規芯片測試領域，國產設備幾乎空白。國磊GT600實現了400MHz測試速率、2048通道擴展、高精度AWG/TMU等關鍵技術指標的突破，具備替代進口設備的能力。這***降低了國內晶圓廠、封測廠和芯片設計公司在**測試環節對國外設備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術封鎖導致產線停擺。國磊GT600每通道集成PPMU，支持HBM相關I/O引腳的漏電流（Leakage）、VIH/VIL、VOH/VOL等DC參數測量。國產GEN3測試系統價位

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規芯片快速上車。導電陽極絲測試系統國磊GT600SoC測試機作為一款通用型高jiATE，其設計目標是支持廣類型的復雜SoC芯片的測試驗證。

支撐國產芯片全流程自主驗證 從設計到量產，芯片必須經過嚴格的功能與參數測試。若測試設備受制于人，不僅存在數據安全風險（如測試程序、芯片特性被第三方獲取），還可能因設備兼容性問題拖慢研發節奏。國磊（Guolei）GT600采用開放式GTFY軟件架構，支持C++編程、自定義測試流程，并兼容STDF、CSV等標準格式，使國產CPU、GPU、AI加速器、車規MCU等關鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產測試，確保“設計—制造—測試”全鏈條安全閉環。加速國產芯片生態成熟與迭代 供應鏈安全不僅在于“有無”，更在于“效率”與“響應速度”。國磊作為本土企業，可提供快速的技術支持、定制化開發和本地化服務。例如，某智能駕駛芯片廠商在流片后發現高速接口時序異常，國磊工程師可在48小時內協同優化TMU測試程序，而依賴國外設備則可能需數周等待遠程支持。這種敏捷響應能力極大縮短了國產芯片的調試周期，加速產品上市，提升整個生態的競爭力與韌性。

    杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高校科研場景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態是科研創新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發環境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優化測試程序，靈活實現各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發了學生的工程實踐能力與教師的科研創造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構建從純數字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進工藝下的漏電特性，GT600都能“一機多用”，避免高校重復采購多臺**設備，***提升設備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達10ps，適用于FinFET、GAA等先進工藝下低功耗器件的特性表征。 國磊GT600SoC測試機可用于執行電壓裕量測試（VoltageMargining），評估芯片在電壓波動下的穩定性。

    MEMS麥克風消費電子中***采用的數字/模擬MEMS麥克風，內部包含聲學傳感MEMS結構與低噪聲前置放大器ASIC。關鍵指標包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學過載點）。杭州國磊（Guolei）支持點：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計算SNR與THD；支持I2S/PDM等數字音頻接口協議測試；可進行多顆麥克風并行測試（512Sites），滿足手機廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監測（如血氧估算）、汽車胎壓監測（TPMS）、工業過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補償與校準功能。杭州國磊（Guolei）支持點：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應的電容激勵信號；Digitizer采集校準后數字輸出（如I2C讀數），驗證線性度與零點漂移；支持高低溫環境下的參數漂移測試（配合溫控分選機）。 國磊GT600測試系統只需通過“配置升級”和“方案打包”，就能快速適配Chiplet的復雜測試需求。導電陽極絲測試系統

國磊GT600SoC測試機512Sites高并行測試架構，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。國產GEN3測試系統價位

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現代高速SoC的基石。在智能手機場景中，麒麟芯片的LPDDR5內存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運行在接口全速，但足以覆蓋其協議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數據完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅動NPU**進行高吞吐矩陣運算測試，確保算力達標。400MHz還支持復雜狀態機跳轉、多模塊協同仿真，避免因測試速率不足導致功能覆蓋缺失。這一參數使GT600能勝任從5G通信到邊緣計算的各類高速芯片驗證，成為國產**SoC量產的“***道高速關卡”。國產GEN3測試系統價位