兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設備，實現從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設計有助于在溫控腔體內穩定運行，確保測試數據的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數據支撐。國產**測試設備助力智能駕駛產業鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術封鎖背景下，國產高性能測試設備的戰略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機，已獲得行業專業客戶認可，標志著我國在**ATE領域取得突破。對于智能駕駛這一關乎國家交通安全與科技**的關鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設備的依賴，更能通過本地化技術支持快速響應芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態的自主化與全球化進程。 界面友好，操作簡便，極大降低使用門檻與培訓成本。金華CAF測試系統廠家供應

適配多元化國產芯片架構 中國芯片產業呈現百花齊放態勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構層出不窮。這些芯片往往具有非標I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創新芯片的發展，從而維護技術路線的多樣性與供應鏈的抗風險能力。保障關鍵領域芯片供應安全 在**、航空航天、智能電網、軌道交通、新能源汽車等關乎國計民生的關鍵領域，芯片供應鏈安全直接關系**。國磊（Guolei）GT600已應用于**AD/DA、顯示驅動、MCU等芯片測試，未來可進一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領域。通過部署國產測試設備，這些敏感芯片的測試數據、良率信息、失效模式等**知識產權得以保留在境內，杜絕信息泄露風險。國磊導電陽極絲測試系統供應國磊GT600SoC測試機每通道32/64/128M向量存儲深度，支持復雜HBM協議Pattern的完整加載與執行。

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。

Chiplet時代的“互聯驗證者” Chiplet（芯粒）技術通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優化。杭州國磊GT600的模塊化設計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術快速發展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯驗證能力，為國產先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。高中端國產替代測試系統，用戶高性價比的選擇！

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現代高速SoC的基石。在智能手機場景中，麒麟芯片的LPDDR5內存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運行在接口全速，但足以覆蓋其協議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數據完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅動NPU**進行高吞吐矩陣運算測試，確保算力達標。400MHz還支持復雜狀態機跳轉、多模塊協同仿真，避免因測試速率不足導致功能覆蓋缺失。這一參數使GT600能勝任從5G通信到邊緣計算的各類高速芯片驗證，成為國產**SoC量產的“***道高速關卡”。離子遷移試驗是確保電子產品長期可靠性的關鍵。金華CAF測試系統廠家供應

工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加，微小漏電異常縮短電池壽命，GT600快速篩選出“壞芯”，確保量產良率。金華CAF測試系統廠家供應

    低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數表征許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數測量單元）和可編程浮動電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產驗證平臺隨著量子計算機向百比特以上規模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調制、頻率合成、反饋控制等功能，結構復雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產階段的功能覆蓋與性能分bin需求。 金華CAF測試系統廠家供應