低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數(shù)表征。許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動電源（-2.5V~7V），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產(chǎn)驗證平臺 隨著量子計算機向百比特以上規(guī)模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的Horse Ridge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調制、頻率合成、反饋控制等功能，結構復雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。國磊GT600SoC測試機兼容STDF、CSV等標準數(shù)據(jù)格式，便于HBM相關測試數(shù)據(jù)的SPC分析與良率追蹤。湘潭CAF測試系統(tǒng)研發(fā)公司

傳統(tǒng)測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯(lián)等新架構。GT600針對此類需求優(yōu)化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動態(tài)稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產(chǎn)測試技術范式升級。湖州SIR測試系統(tǒng)價位國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序對齊測試。

高速數(shù)字接口驗證保障系統(tǒng)集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自動駕駛）常集成SPI/QSPI接口，速率可達50MHz以上。國磊（Guolei）GT600支持400MHz測試速率和100ps邊沿精度，不僅能驗證數(shù)字協(xié)議合規(guī)性，還可進行眼圖分析、抖動測試和建立/保持時間檢查，確保MEMS模塊在高速數(shù)據(jù)交互中不失效，避免因接口時序問題導致系統(tǒng)崩潰。并行測試提升MEMS量產(chǎn)效率 消費級MEMS芯片（如手機中的六軸傳感器）年出貨量達數(shù)億顆，對測試成本極其敏感。國磊（Guolei）GT600支持比較高512 Sites并行測試，可在單次測試中同時驗證數(shù)百顆MEMS-ASIC芯片，大幅降低單顆測試時間與成本。結合其向量存儲深度（比較高128M）和ALPG（自動邏輯圖形生成）功能，可高效覆蓋復雜校準算法（如六點溫度補償）的測試流程。

高同測能力加速智能駕駛芯片量產(chǎn)進程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內同時驗證數(shù)百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規(guī)級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產(chǎn)模式無縫切換，便于在研發(fā)驗證與大規(guī)模生產(chǎn)之間靈活調配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內完成認證與交付。選擇GM8800，就是選擇了一款多功能的測試平臺。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復雜算法流下穩(wěn)定運行。GT600每通道提供高達128M的向量存儲深度，遠超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進行回放測試。這種“場景級驗證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實現(xiàn)“測得準、用得穩(wěn)”。電壓設置靈活，測試電壓1–3000V可調，適應多種實驗條件。贛州CAF測試系統(tǒng)市價

國磊GT600SoC測試機通過輸入/輸出電平測試（VIH/VIL,VOH/VOL）驗證數(shù)字接口的高低電平閾值與驅動能力。湘潭CAF測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設備，實現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設計有助于在溫控腔體內穩(wěn)定運行，確保測試數(shù)據(jù)的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產(chǎn)**測試設備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術封鎖背景下，國產(chǎn)高性能測試設備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認可，標志著我國在**ATE領域取得突破。對于智能駕駛這一關乎國家交通安全與科技**的關鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設備的依賴，更能通過本地化技術支持快速響應芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進程。 湘潭CAF測試系統(tǒng)研發(fā)公司