醫療成像芯片 CT、MRI、內窺鏡等設備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質量要求極高。國磊GT600可通過高速數字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫療設備芯片 心臟起搏器、神經刺激器等植入設備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態電流，篩選出“省電體質”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產**醫療芯片的上市提供了堅實的質量保障。電源門控模塊在喚醒時快速供電進入狀態。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號到模塊輸出有效信號的時間。南京PCB測試系統批發

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。離子遷移測試系統國磊GT600支持C++編程與自定義測試流程，便于實現復雜模擬參數的閉環掃描與數據分析。

測試數據閉環助力量子芯片協同優化，國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全 量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預計2025年全球達1280萬副），量產測試效率成為關鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產型號的產能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標準數據格式導出，便于測試數據與MES系統對接，實現良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經網絡推理功能與低功耗行為，確保端側AI性能與續航的雙重達標。國磊GT600支持循環執行睡眠-喚醒測試，實時采集功耗數據并自動生成報告，提升測試效率與可重復性。

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統（以GT600為**）雖主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應延遲與帶寬；使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。南京PCB測試系統批發

國磊GT600利用高精度邊沿（100ps）和TMU測量時序窗口進行時序與動態性能測試，建立/保持時間測試。南京PCB測試系統批發

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。南京PCB測試系統批發