現(xiàn)代手機(jī)SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02（THD-122dB）和高分辨率Digitizer板卡，可用于AI驅(qū)動的語音識別、圖像信號處理鏈路的動態(tài)性能測試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關(guān)鍵指標(biāo)的精確測量，確保端側(cè)AI感知系統(tǒng)的信號完整性。國磊GT600測試機(jī)的16插槽模塊化架構(gòu)允許數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測試，避免多設(shè)備切換帶來的效率損失與數(shù)據(jù)割裂。
長時間穩(wěn)定運(yùn)行，支持1–1000小時持續(xù)測試，可靠性高。湘潭PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動、長期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。國磊GT600SoC測試機(jī)正是這一“車規(guī)級體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細(xì)測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證MCU在電壓波動、負(fù)載突變等真實(shí)工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行安全。 珠海絕緣電阻測試系統(tǒng)批發(fā)電壓設(shè)置靈活，測試電壓1–3000V可調(diào)，適應(yīng)多種實(shí)驗條件。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關(guān)閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標(biāo)模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進(jìn)行測試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進(jìn)入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進(jìn)行電流采樣；重復(fù)多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。

    1.高邊沿精度保障高速接口時序合規(guī)性?，F(xiàn)代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴(yán)苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實(shí)際輸出波形，驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協(xié)議規(guī)范。這種高精度時序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩(wěn)定性的關(guān)鍵測試手段。開放式軟件生態(tài)賦能定制化測試開發(fā)。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環(huán)境，允許客戶根據(jù)自身芯片特性開發(fā)定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內(nèi)部驗證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實(shí)現(xiàn)自動化安全機(jī)制驗證。同時，圖形化數(shù)據(jù)顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調(diào)試效率，縮短芯片迭代周期。 選擇GM8800，就是選擇了一款多功能的測試平臺。

    車規(guī)級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩(wěn)定系統(tǒng)的高g加速度計、發(fā)動機(jī)歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認(rèn)證。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：支持-40℃~125℃環(huán)境應(yīng)力測試（通過GPIB/TTL對接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數(shù)對比）；數(shù)據(jù)自動記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物醫(yī)療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對低功耗與長期穩(wěn)定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：nA級靜態(tài)電流測量（PPMU）；**噪聲激勵與采集，避免干擾生物信號；支持長期老化測試中的周期性參數(shù)回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不直接測試MEMS的機(jī)械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產(chǎn)品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗證。在消費(fèi)電子、汽車電子、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)和新興智能硬件領(lǐng)域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產(chǎn)MEMS廠商實(shí)現(xiàn)高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺，有力支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)鏈從“制造”向“智造”升級。 國磊GT600憑高精度參數(shù)測量、多域電源控制與可編程軟件平臺，支持從90nm到7nm主流工藝節(jié)點(diǎn)電源門控測試。金華PCB測試系統(tǒng)定制價格

國磊GT600為采用先進(jìn)工藝、集成多電源域、支持復(fù)雜低功耗策略的SoC提供了從研發(fā)驗證到量產(chǎn)測試的全程支持。湘潭PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實(shí)現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。湘潭PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司