可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗(yàn)證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。電阻測量范圍10?–101?Ω，滿足高阻值測試需求，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。金門CAF測試系統(tǒng)廠家直銷

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計(jì)算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運(yùn)行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機(jī)正是確保這類芯片“萬無一失”的關(guān)鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍(lán)牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時(shí)驗(yàn)證數(shù)字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩(wěn)定、語音響應(yīng)及時(shí)。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態(tài)漏電流（Iddq）和動(dòng)態(tài)功耗，篩選出“省電體質(zhì)”的芯片，直接決定眼鏡的續(xù)航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時(shí)佩戴使用，可靠性至關(guān)重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗(yàn)證，提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷，避免用戶端出現(xiàn)死機(jī)、發(fā)熱等問題。AI眼鏡量產(chǎn)規(guī)模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點(diǎn)并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產(chǎn)品上市?？梢哉f，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續(xù)航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴(yán)苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。 東莞導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)市場價(jià)格國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀(jì)、天璣NPU低功耗狀態(tài)機(jī)、喚醒延遲、靜態(tài)電流與混合信號接口驗(yàn)證。

集成PPMU與動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動(dòng)態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動(dòng)輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點(diǎn)并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實(shí)現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計(jì)算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實(shí)驗(yàn)臺”，推動(dòng)中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，已成為性能瓶頸的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時(shí)序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時(shí)鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實(shí)現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗(yàn)證的完整性與可靠性。低功耗SoC應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。

AI眼鏡的輕量化設(shè)計(jì)要求SoC具備極高的功能密度與能效比，其內(nèi)部狀態(tài)機(jī)復(fù)雜，需支持多種低功耗模式（如DeepSleep、Standby）與快速喚醒機(jī)制。GT600的GT-TMUHA04時(shí)間測量單元提供10ps分辨率與0.1%測量精度，可精確測量SoC從休眠到**的響應(yīng)延遲，確保用戶語音喚醒、手勢觸發(fā)等交互的實(shí)時(shí)性。其32/64/128M向量存儲深度支持復(fù)雜狀態(tài)機(jī)序列測試，覆蓋AI推理、傳感器融合、無線傳輸?shù)榷嗳蝿?wù)并發(fā)場景。國磊GT600測試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)定制化低功耗測試流程，如周期性喚醒、事件驅(qū)動(dòng)中斷等典型AI眼鏡工作模式的自動(dòng)化驗(yàn)證。國磊GT600可利用高速數(shù)字通道捕獲時(shí)鐘與控制信號；結(jié)合TMU測量狀態(tài)切換延遲；來驗(yàn)證DVFS策略的有效性。國磊高阻測試系統(tǒng)價(jià)位

當(dāng)電源門控開關(guān)未完全關(guān)斷時(shí)被關(guān)閉模塊仍會(huì)產(chǎn)生異常漏電。國磊GT600通過PPMU測量被門控電源域的靜態(tài)電流。金門CAF測試系統(tǒng)廠家直銷

杭州國磊GT600提供高達(dá)128M的向量存儲深度，相當(dāng)于可存儲1.28億個(gè)測試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測試完整性的關(guān)鍵。現(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運(yùn)行ResNet-50模型推理、手機(jī)SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動(dòng)輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機(jī)需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個(gè)測試程序一次性載入內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)“全速連續(xù)運(yùn)行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時(shí)間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT600能應(yīng)對未來更復(fù)雜的芯片驗(yàn)證需求。金門CAF測試系統(tǒng)廠家直銷