杭州國磊以GT600為支點，正從區域企業成長為全國性半導體測試解決方案提供商。依托杭州“數字經濟***城”的產業勢能，GT600已服務于長三角多家AI芯片設計公司，并逐步向粵港澳、成渝等集成電路集群拓展。未來，隨著中國AI芯片出海加速，GT600憑借高性價比與本地化服務優勢，有望進入東南亞、中東等新興市場。在烏鎮互聯網大會倡導“構建網絡空間命運共同體”的背景下，GT600不僅是中國技術自主的象征，更是向世界輸出“安全、高效、普惠”測試標準的載體，彰顯中國硬科技企業的全球擔當。國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠或關斷模式下的靜態漏電流。國產SIR測試系統供應

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執行多任務調度、通信芯片處理完整5G協議棧，這些測試序列動輒數百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數據，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現“全速連續運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現偶發性失效。對于需要長時間穩定性測試的車規芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環序列。這一參數確保杭州國磊GT600能應對未來更復雜的芯片驗證需求。深圳絕緣電阻測試系統定制國磊GT600支持選配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內精確施加電壓，監測各電源域的動態與靜態電流。

 PPMU功能實現每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現動態功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。

集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態電流與A級動態電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”，實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創新迭代 背景：AI架構快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯，高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具，更是科研創新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600SoC測試機支持GT-AWGLP02任意波形發生器板卡，THD達-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測試。

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序對齊測試。國磊CAF測試系統廠家供應

選擇國磊，就是選擇了超預期的測試技術與成本控制。國產SIR測試系統供應

智能汽車芯片的“安全衛士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規級MCU、功率半導體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴苛認證，確保在-40℃~150℃極端環境下穩定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元在電壓波動、負載突變下的穩定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。國產SIR測試系統供應