2025年云棲大會以“云智一體·碳硅共生”為主題，強調(diào)AI與實體產(chǎn)業(yè)的深度融合。在這一圖景中，SoC測試機如國磊GT600正扮演著“碳基世界與硅基智能”之間的關(guān)鍵橋梁角色。AI大模型、Agent與具身智能的落地，**終都依賴于高性能SoC芯片的支撐——無論是云端服務(wù)器的AI加速器，還是終端設(shè)備的智能處理器。然而，再先進(jìn)的芯片設(shè)計，若無法通過高精度、高效率的測試，便無法實現(xiàn)量產(chǎn)與應(yīng)用。國磊GT600等SoC測試機正是確保這些“智能硅基大腦”功能完整、性能達(dá)標(biāo)、功耗可控的“***質(zhì)檢官”。“碳硅共生”意味著虛擬智能（碳基信息）與物理芯片（硅基載體）的協(xié)同進(jìn)化。國磊GT600可以通過400MHz高速測試、PPMU精密參數(shù)測量、混合信號驗證等能力，保障AI芯片在真實場景中穩(wěn)定運行，推動大模型從云端走向終端。同時，其高同測能力與低功耗設(shè)計，也契合綠色計算與智能制造的可持續(xù)發(fā)展目標(biāo)。可以說，沒有可靠的SoC測試，AI的產(chǎn)業(yè)落地就如同無源之水。在云棲大會展現(xiàn)的智能未來背后，國磊GT600這樣的SoC測試設(shè)備，正是讓“云智”真正“共生”的底層基石。 國磊GT600為采用先進(jìn)工藝、集成多電源域、支持復(fù)雜低功耗策略的SoC提供了從研發(fā)驗證到量產(chǎn)測試的全程支持。GEN測試系統(tǒng)按需定制

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元在電壓波動、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。南京PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家國磊GT600SoC測試機可以進(jìn)行電源門控測試即驗證PowerGating開關(guān)的漏電控制效果。

天璣9000系列的成功，標(biāo)志著國產(chǎn)手機SoC在AI賽道的**崛起。而其背后，離不開從設(shè)計、制造到測試驗證的完整產(chǎn)業(yè)鏈支撐。國磊GT600測試機憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號支持與開放C++軟件架構(gòu)，已成為**SoC測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它不**支持STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率分析與AI模型訓(xùn)練反饋，還可通過GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯(lián)動，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程。選擇國磊GT600測試機，就是選擇一條高效、自主、面向AI時代的SoC測試之路。

低功耗SoC在先進(jìn)工藝下表現(xiàn)出更復(fù)雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細(xì)的時序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設(shè)備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態(tài)電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關(guān)鍵參數(shù)的測量上。此時，國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量，**捕捉先進(jìn)工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅(qū)動能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。專業(yè)的技術(shù)支持團隊，為您提供周到的服務(wù)。

“風(fēng)華3號”**了國產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計到量產(chǎn)的完整驗證鏈支撐。國磊GT600測試機憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計算芯片測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯(lián)動，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程，**提升測試效率與一致性。在國產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國磊GT600測試機提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測試保障，助力中國芯在圖形與計算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。國磊GT600通過可擴展的硬件架構(gòu)、高精度模擬測量能力和開放軟件平臺，為各高jiSoC提供定制測試方案。高性能高阻測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標(biāo)電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。GEN測試系統(tǒng)按需定制

GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量被電源門控關(guān)閉的模塊在“關(guān)斷狀態(tài)”下的漏電流。通過對比門控開啟與關(guān)閉時的電流差異，評估電源開關(guān)的隔離能力，確保未**模塊不會產(chǎn)生異常功耗。2.GT600支持可選配高精度浮動SMU板卡，可為SoC的不同電源域提供**的電壓施加與電流監(jiān)測。在電源門控測試中，可通過SMU分別控制主電源與門控電源的開啟/關(guān)閉時序，驗證電源域之間的依賴關(guān)系與上電順序，防止閂鎖或電壓倒灌。3.GT600配備GT-TMUHA04時間測量單元，提供10ps時間分辨率，用于測量從門控信號有效到目標(biāo)模塊恢復(fù)供電的時間、模塊喚醒后功能恢復(fù)的響應(yīng)延遲、確保電源門控機制在滿足低功耗要求的同時，不影響系統(tǒng)實時性。4.通過GTFY軟件系統(tǒng)與C++編程，工程師可編寫腳本實現(xiàn)循環(huán)執(zhí)行“上電→功能測試→門控關(guān)斷→延時→喚醒”流程；掃描不同關(guān)斷時長對喚醒成功率的影響；監(jiān)測多次開關(guān)操作后的電流一致性，評估可靠性。5.GT600支持高采樣率的動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流，避免因瞬時電流過大導(dǎo)致電壓塌陷或系統(tǒng)復(fù)位。結(jié)合Digitizer功能，記錄電壓/電流波形，用于分析電源穩(wěn)定性與去耦電容設(shè)計有效性。GEN測試系統(tǒng)按需定制