GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。立即聯系我們，獲取專屬的產品演示與報價。國產替代導電陽極絲測試系統廠商

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規芯片的量產效率，降低了單顆測試成本，助力國產車規芯片快速上車。國產GEN3測試系統市場價格超寬的電阻測試范圍，從10^4Ω至10^14Ω全覆蓋。

    2025年云棲大會以“云智一體·碳硅共生”為主題，強調AI與實體產業的深度融合。在這一圖景中，SoC測試機如國磊GT600正扮演著“碳基世界與硅基智能”之間的關鍵橋梁角色。AI大模型、Agent與具身智能的落地，**終都依賴于高性能SoC芯片的支撐——無論是云端服務器的AI加速器，還是終端設備的智能處理器。然而，再先進的芯片設計，若無法通過高精度、高效率的測試，便無法實現量產與應用。國磊GT600等SoC測試機正是確保這些“智能硅基大腦”功能完整、性能達標、功耗可控的“***質檢官”。“碳硅共生”意味著虛擬智能（碳基信息）與物理芯片（硅基載體）的協同進化。國磊GT600可以通過400MHz高速測試、PPMU精密參數測量、混合信號驗證等能力，保障AI芯片在真實場景中穩定運行，推動大模型從云端走向終端。同時，其高同測能力與低功耗設計，也契合綠色計算與智能制造的可持續發展目標。可以說，沒有可靠的SoC測試，AI的產業落地就如同無源之水。在云棲大會展現的智能未來背后，國磊GT600這樣的SoC測試設備，正是讓“云智”真正“共生”的底層基石。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發驗證到量產的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優勢在于其高精度參數測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數測量單元）可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），這是車規芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變為功能失效，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續運行1000小時以上，驗證其長期穩定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應能力，防止“掉電重啟”。低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩定性要求極高的**醫療設備芯片的測試。以下幾類關鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進行驗證： 1. 醫用SoC與微控制器（MCU） 現代醫療設備（如便攜式超聲儀、智能監護儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗證其數字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數據真實可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫療設備依賴高精度ADC（模數轉換器）和DAC（數模轉換器）進行信號轉換。國磊GT600的PPMU可精確測量nA級漏電流，防止信號漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標準生理信號波形，驗證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關鍵參數，確保血壓、血氧等測量值符合醫療級標準。國磊GT600的128M向量存儲深度，支持長時間采集模擬信號動態行為，適用于鎖相環（PLL）、振蕩器等測試。廣州CAF測試系統廠家直銷

國磊GT600SoC測試機可驗證電源門控（PowerGating）開關的漏電控制效果。國產替代導電陽極絲測試系統廠商

國磊GT600測試機的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測量低功耗狀態切換延遲與喚醒時間，確保實時響應性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動態參數測試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜低功耗狀態機的序列測試，而512Sites高并行測試能力則**降低單位測試成本，滿足物聯網、可穿戴設備等高量產場景的需求。綜上所述，現代工藝節點與充足資金確實使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設計復雜度的提升也對測試設備提出了更高要求。國磊GT600測試機憑借其高精度模擬測量能力、靈活的混合信號支持、高并行架構與開放軟件平臺，不**能夠驗證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評估其在先進工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設計到量產落地的關鍵測試基礎設施。國產替代導電陽極絲測試系統廠商