GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量被電源門控關閉的模塊在“關斷狀態”下的漏電流。通過對比門控開啟與關閉時的電流差異，評估電源開關的隔離能力，確保未**模塊不會產生異常功耗。2.GT600支持可選配高精度浮動SMU板卡，可為SoC的不同電源域提供**的電壓施加與電流監測。在電源門控測試中，可通過SMU分別控制主電源與門控電源的開啟/關閉時序，驗證電源域之間的依賴關系與上電順序，防止閂鎖或電壓倒灌。3.GT600配備GT-TMUHA04時間測量單元，提供10ps時間分辨率，用于測量從門控信號有效到目標模塊恢復供電的時間、模塊喚醒后功能恢復的響應延遲、確保電源門控機制在滿足低功耗要求的同時，不影響系統實時性。4.通過GTFY軟件系統與C++編程，工程師可編寫腳本實現循環執行“上電→功能測試→門控關斷→延時→喚醒”流程；掃描不同關斷時長對喚醒成功率的影響；監測多次開關操作后的電流一致性，評估可靠性。5.GT600支持高采樣率的動態電流監測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流，避免因瞬時電流過大導致電壓塌陷或系統復位。結合Digitizer功能，記錄電壓/電流波形，用于分析電源穩定性與去耦電容設計有效性。國磊GT600SoC測試機通過地址/數據生成器驗證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。湖州SIR測試系統價位

AI眼鏡的崛起標志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件，測試難度遠超傳統MCU。國磊GT600測試機憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構與開放軟件平臺，成為AI眼鏡SoC從研發驗證到量產落地的關鍵支撐。它不**滿足當前40/28nm節點的測試需求，更具備向更先進工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中，GT600為國產可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案，助力中國智造搶占下一代人機交互入口。杭州國磊GEN3測試系統供應國磊GT600多通道浮動SMU設計，支持多電源域模擬芯片（如多路電源管理IC）的單一電壓施加與電流監測。

杭州國磊半導體設備有限公司深刻洞察國內產業對CAF測試裝備的迫切需求，成功研發了GM8800導電陽極絲（CAF）測試系統。該系統具備強大的256通道并行測試能力，電阻測量范圍高達10^14Ω，測量精度優異，能夠精細評估PCB內部、封裝材料、基板等在不同偏壓和濕熱條件下的絕緣電阻變化趨勢，有效預警因導電陽極絲生長導致的短路風險。GM8800提供高度靈活的電壓輸出配置，內置精密源表單元（0V~±100V），外接偏置電壓可達3000V，電壓控制精度高，上升速度快，且測試電壓穩定時間可自由設定（1~600秒），完美適配各種加速測試方案。系統***集成數據采集功能，實時記錄時間、電阻、電流、電壓、溫度、濕度等參數，并通過專業軟件進行自動化數據分析和可視化展示，支持遠程監控功能。其設計注重安全與可靠性，配備多層次報警系統（低阻、停機、環境參數、電源、軟件狀態）和斷電保護機制。與英國GEN3等進口產品相比，GM8800在**性能指標上達到國際先進水平，同時擁有更優的通道性價比、更低的運維成本和更便捷的本土化服務支持，已成為國內**的PCB制造商、芯片封裝廠、汽車電子供應商及科研機構進行產品可靠性研究與品質管控的可靠伙伴，助力中國智造邁向新高。

杭州國磊半導體設備有限公司GM8800多通道絕緣電阻導電陽極絲測試系統是國產**測試裝備邁向國際先進水平的重要標志。該系統憑借其可擴展的256通道架構、高達10^14Ω的電阻檢測上限以及優異的測量精度，能夠***滿足IPC、JEDEC等國際標準對CAF測試的嚴苛要求。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓，內置電源精度優于±0.05V@100VDC，電壓上升速度快，并允許用戶自定義1~600分鐘的測試間隔和1~9999小時的測試持續時間，完美適配各種加速壽命測試方案。系統集成多參數同步采集功能，實時監測電阻、電流、電壓、溫度、濕度等關鍵數據，并通過完全屏蔽的線纜傳輸以確保信號質量，其強大的數據分析軟件支持歷史數據回溯、趨勢圖表生成及測試報告導出。在安全可靠性方面，GM8800設計了多層次報警保護系統和UPS斷電續航選項，應對各種意外情況。相較于英國進口的GEN3系統，GM8800不僅在技術性能上實現***對標，更在設備成本、售后技術支持、軟件界面本地化和功能定制方面展現出強大的競爭力，正助力國內集成電路制造、**PCB加工、汽車電子、航空航天等關鍵領域客戶降低對進口設備的依賴，實現供應鏈的安全與自主可控。離子遷移試驗是確保電子產品長期可靠性的關鍵。

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗證，更需精確的參數測試與功耗評估。國磊GT600測試機配備每通道PPMU，可實現nA級靜態電流（IDDQ）測量，**識別AI芯片在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監測，用于驗證DVFS（動態電壓頻率調節）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國磊GT600測試機的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應時間等關鍵時序參數，確保AI任務的實時性與響應速度。您的產品需要經歷高溫高濕環境的考驗嗎？國磊導電陽極絲測試系統市價

國磊半導體，推動測試技術的進步與創新。湖州SIR測試系統價位

杭州國磊半導體設備有限公司依據市場需求開發出GM8800多通道絕緣電阻/導電陽極絲（CAF）測試系統。該系統以其***的256通道并行測試能力、高達10^14Ω的電阻測量上限、1V至3000V的寬范圍可編程偏置電壓以及優于±3%~±10%的測量精度，樹立了國產高阻測試設備的新**。GM8800的設計充分考慮了實際應用的多樣性與復雜性，提供1~600分鐘可自由設定的測試間隔、長達9999小時的持續測試能力、***的故障報警機制（涵蓋低阻、停機、溫濕度、電壓越限、AC斷電、軟件異常等）以及30/60/120分鐘可選的UPS斷電保護，確保無人值守長期測試的可靠性與數據完整性。其配套軟件功能強大，不僅實現多參數實時采集與顯示，更具備深度數據分析和遠程監控能力，支持用戶通過網絡進行跨平臺訪問與控制。相較于國際**品牌如英國GEN3的同類產品，GM8800在保持同等甚至更優技術指標的同時，提供了極具市場競爭力的價格和快速響應的本土化技術支持與服務，極大地降低了用戶的購置成本和運維門檻，廣泛應用于集成電路封裝、PCB制造、新能源車輛電控系統、儲能設備絕緣評估、**消費電子以及醫療電子等領域，是助力中國企業提升產品質量、實現供應鏈安全與國產化替代的戰略性裝備。湖州SIR測試系統價位