杭州國磊半導體設備有限公司打造的GM8800多通道絕緣電阻測試系統是實現**電子材料與組件可靠性表征國產化的重要突破。該系統支持高達256個測量通道的并行運行，電阻檢測能力橫跨10^4至10^14Ω，測量精度嚴格控制，尤其在常規應用區間（如10^10Ω以下）精度優于±3%，展現出***的測量一致性和重復性。GM8800配備高性能電壓施加單元，提供0V~±100V內置輸出和1V~3000V外接擴展，電壓控制精度高，切換速度快，且測試電壓穩定時間可根據材料特性在1~600秒間靈活設置，確保測試條件的科學性與準確性。系統具備完善的實時監測功能，同步采集電阻、電流、電壓、溫度、濕度數據，并通過專業軟件進行處理、顯示、分析與存儲，用戶還可通過網絡實現遠程監控與操作。其設計充分考慮了長期實驗的可靠性，內置低阻、過壓、溫濕度越限、斷電、系統死機等多重報警和保護電路，并支持外部UPS延長斷電保護時間。對比進口設備如英國GEN3，GM8800在提供同等前列測試性能的同時，憑借其更友好的價格、更靈活的配置選項和更迅捷的本土技術服務，為國內集成電路封裝、PCB制造、新能源汽車、儲能系統等領域的客戶提供了超越期望的高性價比選擇，有力推動了國內**測試儀器產業的發展。高中端國產替代測試系統，用戶高性價比的選擇！高阻測試系統價位

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機正是確保這類芯片“萬無一失”的關鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時驗證數字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩定、語音響應及時。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態漏電流（Iddq）和動態功耗，篩選出“省電體質”的芯片，直接決定眼鏡的續航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時佩戴使用，可靠性至關重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗證，提前發現潛在缺陷，避免用戶端出現死機、發熱等問題。AI眼鏡量產規模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產品上市。可以說，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。 南京PCB測試系統按需定制國磊GT600的128M向量存儲深度，支持長時間采集模擬信號動態行為，適用于鎖相環（PLL）、振蕩器等測試。

AI眼鏡的輕量化設計要求SoC具備極高的功能密度與能效比，其內部狀態機復雜，需支持多種低功耗模式（如DeepSleep、Standby）與快速喚醒機制。GT600的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率與0.1%測量精度，可精確測量SoC從休眠到**的響應延遲，確保用戶語音喚醒、手勢觸發等交互的實時性。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜狀態機序列測試，覆蓋AI推理、傳感器融合、無線傳輸等多任務并發場景。國磊GT600測試機支持C++編程與VisualStudio開發環境，便于實現定制化低功耗測試流程，如周期性喚醒、事件驅動中斷等典型AI眼鏡工作模式的自動化驗證。

作為國產**測試裝備的**，GM8800多通道絕緣電阻導電陽極絲測試系統由杭州國磊半導體設備有限公司自主研發，具備強大的電化學遷移（CAF）試驗能力。該系統可在8秒內完成全部256通道的快速掃描與電阻計算，支持每15ms完成單通道測試，***監控離子遷移過程中電阻值的變化，有效判斷絕緣劣化趨勢。GM8800提供1~600分鐘可調的測試間隔，測試持續時間**長可達9999小時，配合UPS斷電保護（30/60/120分鐘可選），確保長時間測試的可靠性。其數據采集參數包括采樣時間、運行時間、電阻、電流、施加電壓、溫度與濕度，用戶可通過功能強大的軟件系統進行實時分析與遠程監控，實現電腦與移動終端同步操作。與價格高昂的英國GEN3設備相比，GM8800在測試效率、系統集成度和本地服務支持方面具備明顯優勢，是中**半導體和電子制造企業實現高質量、低成本測試的理想解決方案。當電源門控開關未完全關斷時被關閉模塊仍會產生異常漏電。國磊GT600通過PPMU測量被門控電源域的靜態電流。

國磊GM8800導電陽極絲（CAF）測試系統是一款性能***、功能***的國產**絕緣可靠性測試平臺。該系統最大支持256個測試通道，可同時對大量樣品或測試點進行長期加電監測，電阻測量范圍寬廣（10^4~10^14Ω），精度可靠，能夠有效評估在高溫高濕環境下電場作用下絕緣材料的離子遷移（CAF）傾向及其絕緣電阻的退化過程。GM8800提供精確可編程的電壓激勵，內置電源范圍0V~±100V，外接偏置電壓高達3000V，步進調節精細，電壓輸出穩定且精度高，并具備快速的電壓切換和建立能力。系統測試間隔（1~600分鐘）、測試持續時間（1~9999小時）均可自由設定，并配備多重安全報警（如低阻、溫濕度超標、電壓異常、斷電、軟件故障）和UPS斷電保護功能，確保無人值守長周期測試的萬無一失。其軟件系統集數據采集、實時顯示、歷史分析、遠程控制于一體，操作便捷，洞察深入。與進口設備如英國GEN3相比，GM8800在關鍵性能參數上達到同等水平，同時擁有更優的通道性價比、更低的維護成本和更及時的本土化技術支持，非常適用于新能源汽車電子、航空航天電子、**消費電子、半導體封裝等領域對絕緣材料及工藝進行苛刻的可靠性驗證與篩選，是實現關鍵測試設備國產化替代的戰略性產品。國磊GT600通過可擴展的硬件架構、高精度模擬測量能力和開放軟件平臺，為各高jiSoC提供定制測試方案。常州導電陽極絲測試系統工藝

堅持創新，持續為客戶創造價值是我們的價值觀。高阻測試系統價位

針對2.5D/3D封裝底部填充膠，在100V偏壓與85%RH條件下執行CAF測試。GM8800系統突破性實現101?Ω超高阻測量（精度±10%），可檢測0.01%吸濕率導致的絕緣衰減：1、空間定位：電阻突變頻譜分析功能，定位封裝內部±0.5mm級CAF生長點。2、過程監控：1~600分鐘可調間隔捕捉阻值從10?Ω到1013Ω躍遷曲線。3、熱管理：溫度傳感器同步記錄固化放熱反應，優化回流焊參數實測數據表明，該方案使FCBGA封裝良率提升22%，年節省質損成本超800萬元。高阻測試系統價位