當前，AI大模型與高性能計算正以前所未有的速度推動HBM（高帶寬存儲器）技術爆發式增長。HBM3、HBM3E成為英偉達、AMD、華為等巨頭AI芯片的標配，全球需求激增，市場缺口持續擴大。然而，HBM不**改變了芯片架構，更對后端測試提出了前所未有的挑戰——高引腳數、高速接口、復雜時序與電源完整性要求，使得傳統測試設備難以勝任。國磊GT600測試機應勢而生，專為應對HBM時代**SoC測試難題而設計。它不是直接測試HBM芯片，而是**服務于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能驗證與量產測試，成為國產**ATE在HBM浪潮中的關鍵支撐力量，助力中國芯突破“內存墻”背后的“測試墻”。國磊GT600SoC測試機支持高達2048個數字通道，滿足HBM接口千級I/O引腳的并行測試需求。衡陽導電陽極絲測試系統研發

現代手機SoC是高度集成的“微型超級計算機”，一顆芯片內融合了CPU（**處理器）、GPU（圖形處理器）、NPU（神經網絡引擎）、ISP（圖像信號處理器）、基帶（5G/4G通信模塊）、內存控制器、電源管理單元等數十個功能模塊，協同完成從AI計算、高清拍照到高速聯網的復雜任務。這對測試設備提出了“全能型”要求。國磊GT600憑借512個高速數字通道，可并行激勵與捕獲CPU/GPU的邏輯響應，驗證運算正確性；通過可選配AWG（任意波形發生器）板卡，可生成高保真模擬圖像信號，精細測試ISP對色彩、噪聲、動態范圍的處理能力；再結合高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），可精確捕捉基帶芯片收發信號的時間抖動與延遲，確保5G通信的穩定性和低時延。16個通用插槽支持靈活配置，讓國磊GT600能像“變形金剛”一樣，針對不同模塊組合比較好測試方案，真正實現“一機通測”，***保障國產**SoC的功能完整性與性能可靠性。湖州PCB測試系統研發公司具備AC斷電報警與軟件異常提醒，杜絕意外中斷風險。

國磊半導體GM8800多通道絕緣電阻測試系統是專為**電子制造業可靠性驗證而打造的精良工具。該系統支持16至256個通道的靈活配置，實現大規模樣品并行加速測試，其電阻檢測能力覆蓋10^4~10^14Ω，測量精度嚴格控制，能夠滿足國際標準如IPC-TM-650 2.6.25對CAF測試的嚴苛要求。GM8800提供精確可編程的電壓輸出，內置±100V精密電源，外接偏置電壓比較高3000V，電壓控制精度高，切換速度快，且測試電壓穩定時間可根據材料特性在1~600秒間精確設置。系統集成高精度電流傳感和環境溫濕度監測，實時采集所有關鍵參數，并通過完全屏蔽的低噪聲測量架構保障數據真實性。配套軟件功能強大，提供自動化測試流程、數據可視化、趨勢分析、報警設置、報告生成及遠程控制功能。在系統可靠性方面，設計了***的硬件與軟件報警機制和UPS斷電保護選項。相較于英國GEN3等進口品牌，GM8800在**測試性能上達到同等***水平，同時擁有更優的通道經濟性、更低的綜合持有成本和更迅捷的本土技術服務，已成為國內**的PCB廠商、半導體封裝廠、新能源車企及科研機構進行絕緣材料研究、工藝評價和質量控制的信賴之選，助力中國智造邁向高可靠性時代。

杭州國磊半導體設備有限公司GM8800多通道絕緣電阻導電陽極絲測試系統是國產**測試裝備邁向國際先進水平的重要標志。該系統憑借其可擴展的256通道架構、高達10^14Ω的電阻檢測上限以及優異的測量精度，能夠***滿足IPC、JEDEC等國際標準對CAF測試的嚴苛要求。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓，內置電源精度優于±0.05V@100VDC，電壓上升速度快，并允許用戶自定義1~600分鐘的測試間隔和1~9999小時的測試持續時間，完美適配各種加速壽命測試方案。系統集成多參數同步采集功能，實時監測電阻、電流、電壓、溫度、濕度等關鍵數據，并通過完全屏蔽的線纜傳輸以確保信號質量，其強大的數據分析軟件支持歷史數據回溯、趨勢圖表生成及測試報告導出。在安全可靠性方面，GM8800設計了多層次報警保護系統和UPS斷電續航選項，應對各種意外情況。相較于英國進口的GEN3系統，GM8800不僅在技術性能上實現***對標，更在設備成本、售后技術支持、軟件界面本地化和功能定制方面展現出強大的競爭力，正助力國內集成電路制造、**PCB加工、汽車電子、航空航天等關鍵領域客戶降低對進口設備的依賴，實現供應鏈的安全與自主可控。國磊GT600SoC測試機兼容STDF、CSV等標準數據格式，便于HBM相關測試數據的SPC分析與良率追蹤。

HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數據速率高達Gbps級別，對測試設備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰。國磊GT600測試機以400MHz測試速率和**2048個數字通道的強大配置，從容應對HBM接口的高并發、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運行復雜協議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產AI芯片量產效率與市場競爭力的**引擎。國磊GT600SoC測試機的10ps分辨率TMU可用于驗證先進節點下更嚴格的時序窗口，如快速喚醒與電源切換延遲。南京CAF測試系統

國磊GT600SoC測試機作為一款通用型高jiATE，其設計目標是支持廣類型的復雜SoC芯片的測試驗證。衡陽導電陽極絲測試系統研發

針對2.5D/3D封裝底部填充膠，在100V偏壓與85%RH條件下執行CAF測試。GM8800系統突破性實現101?Ω超高阻測量（精度±10%），可檢測0.01%吸濕率導致的絕緣衰減：1、空間定位：電阻突變頻譜分析功能，定位封裝內部±0.5mm級CAF生長點。2、過程監控：1~600分鐘可調間隔捕捉阻值從10?Ω到1013Ω躍遷曲線。3、熱管理：溫度傳感器同步記錄固化放熱反應，優化回流焊參數實測數據表明，該方案使FCBGA封裝良率提升22%，年節省質損成本超800萬元。衡陽導電陽極絲測試系統研發