晶片缺陷檢測(cè)儀是一款基于光學(xué)和機(jī)械技術(shù)的精密分析儀器，主要用于晶圓制造過(guò)程中表面顆粒、劃痕、凹坑和微管缺陷的分析檢測(cè) [1]。該設(shè)備采用405nm光學(xué)系統(tǒng)與多頻道探測(cè)器組合技術(shù)，可檢測(cè)顆粒、劃痕、凹坑及微管等缺陷類(lèi)型，并配備2至6英寸夾具適配不同規(guī)格晶片。其自動(dòng)化功能包含機(jī)械手臂傳輸和自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，提升了檢測(cè)效率和精度。截至2021年1月，該設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)包括 [1]：1.采用405nm波長(zhǎng)的光學(xué)系統(tǒng)，提升表面微小缺陷的識(shí)別能力；檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。虎丘區(qū)附近自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠

2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時(shí)，所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測(cè)這些器件時(shí)，還必須再定 義出一塊沒(méi)有器件的地方為“禁區(qū)”。對(duì)于有些BGAs，會(huì) 推薦使用一種淚滴型的不對(duì)稱(chēng)焊盤(pán)設(shè)計(jì)，這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯(cuò)誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài)；此外， 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤(pán)設(shè)計(jì)也同樣有這種情況。QFN 焊盤(pán)設(shè)計(jì)QFN器件的焊盤(pán)尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的，而且器件的引腳是交錯(cuò)排列在 封裝體底部的(圖8)。蘇州銷(xiāo)售自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售價(jià)格每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運(yùn)用適當(dāng) 的運(yùn)算法則來(lái)進(jìn)行檢查。

例如,根據(jù)回波信號(hào)的特點(diǎn)和探傷現(xiàn)場(chǎng)的干擾狀況,選擇不同的濾波器結(jié)構(gòu)、參數(shù)和不同的實(shí)時(shí)報(bào)警策略,這充分體現(xiàn)了虛擬儀器的優(yōu)點(diǎn)。 [2]高速A /D 及數(shù)字檢波技術(shù)超聲波缺陷信號(hào)時(shí)基時(shí)間寬度一般為0. 6～2. 0μs,上升測(cè)時(shí)間為10～ 40ns ,為了達(dá)到不失真采樣,對(duì)5M Hz工作頻率的超聲波探頭,至少需要40～60M Hz的采樣速度。傳統(tǒng)的數(shù)字化探傷設(shè)備,由于A /D采樣速度的限制,采樣前需要模擬包絡(luò)檢波。這導(dǎo)致了超聲波缺陷回波的細(xì)節(jié)失真,降低了對(duì)缺陷的分辨力。另外,由于全波或半波檢波,導(dǎo)致高增益時(shí)出現(xiàn)基線(xiàn)抬高的問(wèn)題,影響了系統(tǒng)性能指標(biāo)。

超聲波探傷超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種波型，檢驗(yàn)中**常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡(jiǎn)單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷；用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷；用表面波可探測(cè)形狀簡(jiǎn)單的鑄件上的表面缺陷；用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。如圖《DAUTD系統(tǒng)組成結(jié)構(gòu)》給出一個(gè)基于PC-DSP的數(shù)字化超聲波自動(dòng)探傷系統(tǒng)( DAUTD)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。整個(gè)系統(tǒng)由探頭陣列、機(jī)械傳動(dòng)裝置、傳動(dòng)控制卡、4× 4模擬通道處理板、電源控制與同步觸發(fā)板、數(shù)字信號(hào)處理板、工控機(jī)及其外設(shè)組成。決定哪里放置AOI需要認(rèn)識(shí)到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的，這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)。

在優(yōu)化階段，在這方面花時(shí)間的原因是為了不讓任何缺陷溜過(guò)去。所有已知的缺陷都必須檢查，同時(shí)要把允許出現(xiàn)的誤報(bào)數(shù)量做到**小。在針對(duì)減少誤報(bào)而對(duì)任何程序進(jìn)行調(diào)整時(shí)，要檢查一下，看看以前檢查出來(lái)的真正缺陷，是否得到維修站的證實(shí)。通過(guò)綜合的核實(shí)，保證檢查程序的質(zhì)量，用于專(zhuān)門(mén)的制造和核查，同時(shí)對(duì)誤報(bào)進(jìn)行追蹤。無(wú)鉛和檢測(cè)工藝適應(yīng)性程序沒(méi)有發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)到無(wú)鉛會(huì)對(duì)焊點(diǎn)質(zhì)量的檢查帶來(lái)什么影響。缺陷看上去還是一樣的。毫無(wú)疑問(wèn)，只需要稍微修改一下數(shù)據(jù)庫(kù)，就足以排除其他誤報(bào)可能會(huì)帶來(lái)的影響。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。張家港直銷(xiāo)自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售價(jià)格

這是一個(gè)典型地放置檢查機(jī)器的位置，因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來(lái)自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。虎丘區(qū)附近自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠

系統(tǒng)采用DSP系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)增益控制、實(shí)時(shí)門(mén)限報(bào)警、傳動(dòng)設(shè)備控制等問(wèn)題; 采用標(biāo)準(zhǔn)的工控機(jī),是吸收了虛擬儀器的思想,以便實(shí)現(xiàn)多通道的智能化管理,以及波形顯示、數(shù)據(jù)分析、用戶(hù)可視化操作、探傷報(bào)告打印。主從機(jī)之間通過(guò)PC機(jī)并口和DSP主機(jī)接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸。 [2]模擬部分DAUTD的模擬部分包括超聲波收發(fā)電路、數(shù)控放大/衰減器、可控模擬濾波器陣列。超聲波收發(fā)電路采用600V、400V負(fù)脈沖激勵(lì); 增益控制電路由一級(jí)固定20dB 放大, 二級(jí)壓控放大器提供- 20～ + 60dB 的衰減和放大, 則整個(gè)系統(tǒng)增益設(shè)計(jì)為80dB, **小步進(jìn)0. 1dB; 可控濾波器設(shè)定為多種寬帶濾波模式, 如0～ 15M Hz、2～ 20M Hz 等, 比較高工作頻段為20M Hz。 [2虎丘區(qū)附近自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠

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