探針測試臺x-y工作臺滾珠絲杠副和導軌結構x-y工作臺的維護與保養相對于平面電機工作臺，絲杠導軌結構的工作臺結構組成較復雜，工作臺由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺由兩個步進電機分別驅動x、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動，導向部分采用精密直線滾動導軌。由于運動部分全部采用滾動功能部件，所以具有傳動效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點。這種結構的工作臺應放置在溫度23±3 ℃，濕度≤70%，無有害氣體的環境中，滾珠絲杠、直線導軌應定期加精密儀表油，但不可過多，值得指出的是，這種結構的工作臺在裝配過程中，從直線導軌的直線性，上下層工作臺之間的垂直度以及工作臺的重復性，定位精度等都是用專業的儀器儀表調整，用戶一般情況不能輕易改變，一旦盲目調整后很難恢復到原來的狀態，所以對需要調整的工作臺應有專業生產廠家或經過培訓的專業人員完成。極端環境下給樣品加載電學信號的探針臺設備。磁場探針臺

光電流測試探針臺系統是在金相顯微鏡基礎上導入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。l本顯微鏡設計為雙光路或3光路，其中一路為導入光通路，另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線性光源，波長范圍200nm~20000nm，中間可加入多個波片過濾，起偏及偏振角度無級360度調節。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。l所有模塊均可拉出設計，對導入光性質無影響。導入光光路可選擇一個光時間開關，精確控制導入光的輻照時間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對各種參數進行詳細設置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測試系統里會用到，同一個物鏡不切換，得到兩個不同視野的成像。南昌大功率測試探針臺探針臺搭配源表或者半導體參數分析儀進行電參數測試。

    微納探針臺可在納米尺度上對樣品和測試設備進行電學表特征：1、快速、精確、穩定微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學探針接口，可在毫米級尺度上進行宏觀運動并實現納米尺度上的微觀運動。2、使用場景多樣化微納探針臺結構緊湊，占用空間小，運動行程大，可匹配各種顯微鏡樣品臺，真空室，光學試驗臺等工作條件。3、完善的技術解決方案微納探針臺與尼康金相顯微鏡/SR-Scopel集成形成的探針臺電學測量系統，為宏觀行程上進行的微觀尺度電學及表征測量提供了具體的解決方案。4、直觀、方便微納探針臺通過手柄控制，具有多級宏觀調速，脈沖運動，以及位移微調功能，宏觀運動速度跨度在5um/s~2mm/s，單點脈沖步進可達300nm以下，微調運動分辨率小于1nm，在顯微鏡下操作更直觀，方便，精細。5、高度集成微納探針臺電學測量系統，配備完善的光學顯微鏡模塊，配備亮度調節，增益和變焦等功能，與電腦連接后，可實現圖像快照，尺寸測量和標注，視頻記錄等常規功能。

手動探針臺的維護和保養1.避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺時應避免碰撞，機體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機器發生故障或異常異音。2.儀器的運輸：儀器運輸時，請先拔掉電源線插頭。儀器運輸應使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺的任何運動部件。3.儀器的存放使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械精密部件，光學部件，電學接觸面污染，導致儀器精度降低。探針臺機體清潔時，避免直接潑水清理，以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器，以免發生故障或危險。探針臺光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸無水酒精從中間向外輕輕的擦拭。無水酒精時易燃物，注意使用安全。停電或長期不用、外出旅行時，請將電源線插頭拔掉以維護機器壽命。操作人員必須嚴格按要求操作，以保證數據的準確和儀器的正常使用。4.工作環境探針臺應放在穩定可靠的臺面上，比較好是具有防震裝置的工作臺上，避免在高溫，潮濕激烈震動，陽光直接照射和灰塵較多的環境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃～40℃，比較好濕度是40%到85%，空氣中之濕度若低于30%以下，可靠濕度控制器予以控制，使維持50%～60%之范圍。使用時門窗盡可能關閉探針臺與顯示器一體化設計。

提到手動探針臺，大家就會對操作系統感興趣，因為手動與自動的非常大的區別在于需要人工干預探針臺的工作，加工工作需要靠機械和人力共同完成，這就關系到各個廠家車間加工的技術人員了，也有很多朋友非常關心探針臺的價格，擔心會因為圖便宜而影響探針臺的性能，其實，如果大家選擇了創譜，這些都不是問題。1、探針臺類型：例如準確測量型探針臺、綜合分析型探針臺、高低溫真空探針臺等，能夠滿足不同工作環境的需求。2、質量非常有保證：每一臺手動探針臺都是新機，并且還能提供定制服務，專門針對廠家的需求辦事，即便是手動操作也能實現準確加工。3、經濟實惠：堅持為每一位客戶提供上門安裝教學的服務，并且提供更加安全有保障的售后服務，幫助大家在短時間內上手，實現準確操作手動探針臺工作，即便是合成電路、測試設備、硬件軟件測試等等，輕而易舉解決這些細節難題!半導體探測系統是一種成熟的工具，用于測試硅晶片，裸片和開放式微芯片上的電路和器件。MOS管探針臺廠家供應

經濟實惠高性價比的手動探針臺。磁場探針臺

手動探針臺是廣泛應用于半導體行業的綜合經濟型測試儀器，主要用于半導體芯片的電參數檢測。手動探針臺是通過兩根探針以及吸片盤夠成的回路以及相應大型電參數測試儀對芯片中的集成電路進行檢測的。應用范圍：手動探針臺主要用于對生產及科研中的集成電路、三極管、二極管、可控硅及敏感元件管芯的電壓、電流、電阻等參數進行手動測試。極低溫測試:因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。高溫無氧化測試：當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時，氧化現象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差，物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因為熱脹冷縮現象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。磁場探針臺

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