掃描探針顯微鏡控制器通過掃描器在豎直舛由方向移動樣品以使探針和樣品之間的距離(或相互作用的物理量)穩定在某一固定值;同時在x-y水平平面移動樣品，使探針按照掃描路徑掃描樣品表面。掃描探針顯微鏡在穩定探針與樣品間距的情況下，檢測系統檢測探針與樣品之間相互作用的相關物理量信號;在穩定相互作用物理量的情況下，則通過豎直方向礴由位移傳感器檢測探針與樣品之問距離。圖像系統則根據檢測信號(或探針與樣品間距)對樣品表面進行成像等圖像處理。聚焦離子束（FIB）顯微鏡；安徽顯微鏡規格尺寸
透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個高科技領域經常運用的四種顯微鏡。英文名分別是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。從名字中很容易知道四個顯微鏡的特點，其中TEM和SEM用的是電子來替代光，從而確定觀測樣品結構，而STM和AFM其實用的都是探針。所以可以認為亞顯微級顯微鏡（這個名字主要是區別開光學顯微鏡，用來說明其分辨率遠高于用可見光觀測）可以分為兩大類，即電子顯微鏡類別和探針顯微鏡類別。三豐顯微鏡種類共聚焦顯微鏡掃描時用的是激光光源。
透射電鏡的工作過程與光學顯微鏡類似。在光學顯微鏡中聚焦后的可見光射向樣品，穿過樣品的光經過物鏡、目鏡等光學系統聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中，可見光由電子槍發射出來的電子束所代替,在陽極加速電壓的作用下，電子經過2、3個電磁透鏡會聚為電子束，用來照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱，因此樣品必須很薄)，穿過樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結構信息，經物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。
透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩者用的都是電子作為發射源，不過透射電子顯微鏡的結構更像是我們看到的光學顯微鏡，即通過兩次電子束的聚焦，然后經過樣品，經過投影屏放大分析，得到樣品的微觀結構。但是掃描電子顯微鏡則沒有后面用來放大的投影屏，而是接收屏，即電子打在樣品上后激發產生的二次電子，也可以理解為“反射”。所以看到的TEM和SEM在圖像成像上，前者看著極其扁平，如同光鏡的圖像，是一個平面。但是SEM獲得的圖像有縱深，看著像是3D圖像。電子顯微鏡與光學顯微鏡；
共聚焦顯微鏡掃描時用的是激光光源，激光的穿透力強，可對樣本進行一定深度的光學斷層，從而獲得高標準的連續光學切片，由此做Z軸光學切片后重組出3D效果就能立體地展示樣品里熒光的空間分布。配有高精度電動載物臺和圖像拼接軟件，能完美解決放大倍數和整體成像這一問題。可做時間序列拍攝，實時監測熒光變化，可以把熒光變化的過程以動態的形式展示出來。
共聚焦的應用很廣，像離體細胞、組織切片、物理材料、模式生物等熒光樣本都可以用共聚焦進行拍攝，除了常規的熒光圖片拍攝進行定性定位外，還可以進行熒光的半定量分析、共定位分析、熒光漂白恢復（FRAP）、熒光共振能量轉換(FRET)等，但也要注意一下，常規405-647nm之間的激發波長都可以支持。 激光共焦掃描顯微鏡是點成像。Optem顯微鏡產品介紹
體視顯微鏡的廣泛應用；安徽顯微鏡規格尺寸
掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是什么？
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射電子顯微鏡（TEM）發展而來，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現的一種新型分析方式，其空間分辨率可達亞埃米級，可在納米和原子尺度上對材料微結構與精細化學組分的表征與分析。在冶金、材料、環境科學、生物科學等領域具有巨大應用潛力。 安徽顯微鏡規格尺寸
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