透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個高科技領域經常運用的四種顯微鏡。英文名分別是Transmission Electron Microscope(TEM),Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope(STM)和Atomic Force Microscope(AFM)。從名字中很容易知道四個顯微鏡的特點,其中TEM和SEM用的是電子來替代光,從而確定觀測樣品結構,而STM和AFM其實用的都是探針。所以可以認為亞顯微級顯微鏡(這個名字主要是區別開光學顯微鏡,用來說明其分辨率遠高于用可見光觀測)可以分為兩大類,即電子顯微鏡類別和探針顯微鏡類別。體視顯微鏡的光路設計;山東顯微鏡型號
體視顯微鏡的性能特點:
●先進的光學性能,平坦清晰的顯微圖像,即使是視場也能保持質量明亮的像質。
●采用新型視度可調目鏡,連續變倍比物鏡,靈活多樣的輔助物鏡組合,使顯微圖像更加清晰明亮。
●全新的人機工程學設計,長時間使用不感到疲勞,比較大限度的確保使用者操作的舒適性。
●廣泛應用于醫學、科研、現代電子工業在線檢測和其他科技工業領域等高精度方面的要求。
用途:
●現代電子工業檢測SZN可用于工業檢測分析,如作晶體管點焊、檢查等操作工具。各種材料的裂縫構成,氣孔形狀腐蝕情況等表面現象的檢查。在制造小型精密零件時作機床工具的裝置、工作過程的觀察、精密零件的檢查以及裝配工具等。
●生物醫學研究SZN可用于醫學、科研的基礎生物研究。同時也滿足于中高等院校的教學實驗課程,如動物學、植物學、昆蟲學、組織學和解剖學等多種研究課程。 成都顯微鏡分類顯微鏡的幾種觀察方式;
掃描探針顯微鏡根據所利用的探針與樣品之間相互作用物理場的不同,被分為不同系列的顯微鏡。其中掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。掃描隧道顯微鏡是通過檢測探針與被測樣品之間的隧道電流的大小來檢測樣品表面結構。原子力顯微鏡是通過光電位移傳感器檢測針尖一樣品間的相互作用力(既有可能足吸引力,也有可能是排斥力)所引起的微懸臂形變來檢測樣品表面。可根據不同需求來進行定制,滿足不同應用場合
顯微鏡的觀察方式,你知道幾種?
熒光成像在如今的科研中已經廣泛應用,無論是熒光免疫組化染色、融合蛋白轉基因表達,還是熒光染料染色,這些方式都對蛋白的定位和定量分析,細胞的動態變化,組織結構的觀察,蛋白的共定位起到重要的影響。熒光成像的原理基于熒光分子獲得能量后從高能態躍遷回低能態所釋放出的熒光信號。激發這種狀態可以使用各種光源,例如普通熒光顯微鏡使用的金屬鹵化物燈,LED熒光燈,共聚焦顯微鏡和雙光子顯微鏡使用的激光。
需要記住的是,不同的熒光成像方式適合不同的研究對象:?由于sCOMS相機的快速成像特點,在鈣成像上普通熒光顯微鏡具有速度優勢。?共聚焦較好的信噪比和分辨率特點適合多色高分辨高對比成像。?利用雙光子光漂白少的特性,對活細胞或動物成像具有優勢。?利用不同的染料和熒光蛋白特性,還可以進行更多更復雜的熒光成像實驗。材料樣品也不甘寂寞,它們不像生物樣品那樣需要特定的染料進行標記,一般都是以自發熒光的方式來呈現它們多彩的一面。比如樹脂材料,纖維等樣品,利用這一特點可以對樣品進行缺陷檢測等應用,為科研和生產提供保障。 顯微鏡系統維護保養;
顯微鏡聚光鏡
在照明系統中,聚光鏡的作用是比較大限度地把光線聚集起來,投射到顯微鏡的成像系統中。基于聚光鏡的功能,對聚光鏡像質的要求為球差和色差,以和顯微鏡物鏡的像差相適應。
顯微鏡色差
一般在設計時,只在可能條件下取得最小值即可,故聚光鏡的選料很重要。聚光鏡的材料宜選用低色散的光學玻璃(如K9玻璃)。由于位置色差在視場中疊加的結果是在其邊緣出現彩色現象,只要使照明的區域大于標本的尺寸就能避免色差的影響。但是,對柯勒照明來說,要求聚光鏡把它的光闌成像在物面上,避免色差影響以消色差聚光鏡的方案替代了。消色差聚光鏡的結構類似于高倍顯微鏡物鏡,只是焦距比較長,以使光束能夠通過較厚的載物玻璃(約2mm)照亮標本。
球差存在將影響聚光鏡對光線的聚集能力,降低照明的效果。
共聚焦顯微鏡技術下一步的研究重點。山東顯微鏡型號
共聚焦顯微鏡觀察激發光與發射光。山東顯微鏡型號
透射電鏡的工作過程與光學顯微鏡類似。在光學顯微鏡中聚焦后的可見光射向樣品,穿過樣品的光經過物鏡、目鏡等光學系統聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中,可見光由電子槍發射出來的電子束所代替,在陽極加速電壓的作用下,電子經過2、3個電磁透鏡會聚為電子束,用來照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱,因此樣品必須很薄),穿過樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結構信息,經物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。山東顯微鏡型號
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