為什么說熒光壽命成像技術是先進的?熒光壽命成像可以提供熒光強度(光子數)和光子壽命的空間分布,具有200 nm的空間分辨率和皮秒量級的時間分辨率。通過雙光子激發(結合飛秒脈沖和共焦顯微鏡)可以直接檢測熒光和時間分辨的熒光壽命。這種無損檢測技術,無需解剖或專門制造分層樣品,不但可在樣品表面,還可在樣品表面以下實現深度解析測量。特別適用于新材料、光子學、光伏、光催化、生物材料、納米材料和納米復合材料以及其相關的原理探究和設計優化。熒光壽命成像一般不受諸如激光或熒光強度擾動、染料的光漂白以及其他有礙熒光強度的因素的影響。天津植物熒光壽命成像制造
熒光壽命的測量和熒光壽命成像主要有時間相關單光子計數法(time correlated single photon counting, TCSPC)、門控探測法(time-gated detection)、條紋相機測量法(streak-FLIM)、頻閃技術等四種常見的方法。TCSPC是目前測量熒光壽命的主要技術,同軸脈沖光源發出的脈沖光引起起始光電倍增管產生電信號,該信號通過恒分信號甄別器1啟動時幅轉換器(time-amplitude converter,TAC),時幅轉換器產生一個隨時間線性增長的電壓信號。此外,同軸脈沖光源發出的脈沖光通過激發單色器后到達樣品池,樣品產生的熒光信號再經過發射單色器到達終止光電倍增管,由此產生的電信號經由恒分信號甄別器2到達時幅轉換器并使其停止工作。天津植物熒光壽命成像制造熒光壽命成像擁有超快的激光技術,高速、高靈敏度探測技術。
熒光壽命成像有什么作用?熒光壽命可以在頻域或者時間域測量。時間域測量方法涉及用短光脈沖照射樣品(比色皿、細胞或組織),然后隨時間測量發射強度。FLT由衰減曲線的斜率確定。有幾種熒光檢測方法可用于壽命測量,其中時間相關單光子計數(TCSPC)可實現簡單的數據收集和增強的定量光子計數。頻域方法涉及高頻率入射光的正弦調制。在該方法中,發射發生在與入射光相同的頻率處,并且隨著激發光兼有相位延遲和振幅的變化(解調)。壽命測量不需要波長比率探針來提供眾多分析物的定量測定。壽命法通過使用光譜位移探針擴展了分析物濃度范圍的靈敏度。
熒光壽命成像中的熒光壽命是什么意思?有什么用?假定兩種衰減躍遷速率分別為Γ和knr,則激發態衰減速率可表示為:其中n(t)表示時間t時激發態分子的數目,由此可得到激發態物種的單指數衰減方程。熒光壽命定義為衰減總速率的倒數:熒光強度正比于衰減的激發態分子數,因此可將上式改寫為:其中I0是時間為零時的熒光強度,τ為熒光壽命。也就是說熒光強度衰減到初始強度的1/e時所需要的時間就是該熒光物種在測定條件下的熒光壽命。事實上當熒光物質被激發后有些激發態分子立即返回基態,有的甚至可以延遲到5倍于熒光壽命時才返回基態,這樣就形成了實驗測定的熒光強度衰減曲線。由于熒光壽命成像不受樣品濃度影響具有其他熒光成像技術無法代替的優異性能。熒光壽命成像不需要考慮跳色的影響,從而免去了計算和去除跳色雜質信號的麻煩。
熒光壽命成像的優勢是什么?熒光壽命成像具有不同于熒光強度成像的眾多優點;不需要考慮跳色的影響,從而免去了計算和去除跳色雜質信號的麻煩;去除跳色雜質的準確性很大程度上依賴于信噪比、成像流程的設計和控制、以及跳色信號估算的算法,這些因素使得通過穩態光強度測量熒光壽命成像的精確度在很多時候受到質疑。穩態光強度的熒光壽命成像測量很容易受熒光標記光漂白或是激發光散射背景的影響,而這些因素對FLIM-FRET的測量影響相對較低。熒光壽命成像可以定量的區分參與FRET和沒有參與FRET的分子數量,這樣深入的定量分析是穩態光強度方法做不到的。熒光壽命不受熒光探針的濃度的影響,可排除納米材料的胞吐分化導致的納米顆粒的稀釋等對測量的影響。廣州分子熒光壽命成像哪里有賣
熒光壽命成像可以運用在哪些地方?天津植物熒光壽命成像制造
用于流場診斷的快速熒光壽命成像系統及方法:熒光壽命成像具有不受染料濃度、不受光漂白、不受樣本厚度和光源噪聲的影響等諸多優點,通過這一技術手段可以深入地進行功能性測量,獲取分子構象、分子微環境變化等信息,研究分子間的相互作用。熒光共振能量轉移是一種非輻射的,距離依賴的由供體熒光基團傳遞能量至受體熒光基團的過程,普遍用于蛋白質的空間構象變化,蛋白質分子間的相互作用,分子間距離的測量等研究。熒光壽命是熒光分子停留在激發態的時間,是熒光分子的固有性質,同熒光強度成像相比。天津植物熒光壽命成像制造
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