在半導體行業應用：LED芯片三維測量LED晶圓光學檢測BGA半導體封裝光伏晶圓表面形貌測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業涂層環境中測量部件，即使它們位于移動產線上、在高溫環境中，甚至易碎或潮濕環境中。由于激光束產生的熱量極少，因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此，對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業運用，它也可以系統地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘，具有高度重復性。這樣可以控制高達100％的涂層部件，嚴格遵循涂層工藝性能并實時反應以保持比較好狀使用簡單，拆裝方便，掃描速度快，定位精度高重復精度±0.5~±1μm；穩定性高，抗干擾能力強。江西馬波斯傳感器技術

氣浮軸承是一種利用氣體動靜壓原理工作的非接觸式軸承，由于工作在平面度較好的花崗巖表面，因此本身也能獲得非常理想的運動平面度及平順性，特別適用于高精度檢測以及超精加工領域。我司使用的為特殊設計加工的預壓式氣浮軸承，具有高剛性、高平面度、免維護、使用壽命長等特點，可確保設備24小時連續工作無異常，**長設備使用壽命達到10年。行業解決方案-微電子行業微電子行業微電子技術是隨著集成電路，尤其是超大型規模集成電路而發展起來的一門新的技術。微電子技術包括系統電路設計、器件物理、工藝技術、材料制備、自動測試以及封裝、組裝等一系列專門的技術，微電子技術是微電子學中的各項工藝技術的總和。微電子技術是當代發展**快的技術之一，是電子信息產業的基礎和心臟。微電子技術的發展，**推動了航天航空技術、遙測傳感技術、通訊技術、計算機技術、網絡技術及家用電器產業的迅猛發展。微電子制造中，需要大量的金線、在密封方面也需要膠。司逖光譜共焦傳感器在金線檢測、膠路檢測方面可以為廣大客戶提供完美的解決方案，呈現清晰的數據和圖像。江蘇非接觸式傳感器廠家光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，讓您滿意，有想法可以來我司咨詢！

STIL光學傳感器為全球各個行業提供更好的質量控制,我們的產品系列適合于各種應用，為更高的質量標準提供可靠的控制和檢測。1995年推出點光譜共焦傳感器，2005年創新推出線光譜共焦傳感器，2015出現線光譜共焦相機，通過持續創新，2025年將推出適用于工業4.0智能解決方案。在嚴苛的工業環境下客戶要求速度、精度、質量和安全滿足的同時，也要求減少對環境的影響和降低成本，這正是STIL傳感器產品系列具有的優勢。適用于任何材料同軸共焦原理兼容任何折射，同軸共焦原理，易于工業集成，大角度測量，符合ISO25178-602標準。光譜共焦的特點：1.共焦對環境光不敏感可過濾雜波；2.彩色光譜在測量范圍內形成彩色光譜，各種景深3.光譜儀通過嵌入式光譜儀對反射或漫反射進行光譜分析，快速并精確4.同軸同軸光學設計，無陰影影響。可靠、精確、超高分辨率的尺寸測量；高速在線解決方案；適用各種材料和環境；優于傳統測量方案的其他特性，如：大角度測量，亞微米級精度，測量多層厚度。

公司基于創新的技術開發了兩個系列的產品：從0.1μm到100mm測量行程的點光譜共焦傳感器、從1.8mm到45mm線長的不同測量行程的線光譜共焦傳感器。這些高分辨率的非接觸式傳感器***運用于各種不同要求的高精密測量場合。從物體表面細微結構、形狀及紋理粗糙度的測量分析，到工業環境下的在線質量檢測、過程控制與逆向工程，及實驗室研究場合的高精度設備，我們的光譜共焦傳感器都成了眾多客戶不可或缺的選擇。我們為全球各行業（可應用行業范圍：玻璃、醫療、電子、半導體、汽車、航空航天、制表業…等）企業提供高性能的光譜共焦位移傳感器。任何材料的物體，如金屬、玻璃、陶瓷、半導體、塑料、織物等，我們的光譜共焦傳感器都可輕松測量，而且對被測物體表面的顏色和光潔度也沒有任何特殊要求，無論什么顏色，物體表面是漫反射或者高光面，乃至于鏡面都可以輕松測量。馬波斯測量科技是一家專業提供光譜共焦傳感器的公司，有想法的可以來電咨詢！

在具體測量過程，需保證光強和量程預警指示燈為綠色，則測量的數據質量好，重復性精度高。如遇到橙色或紅色顯示，則需要根據上述方法調整傳感器的狀態。如嘗盡上述方法都未能解決問題，請及時聯系我們說的售后工程師，我們將幫助您解決該問題與您分享光譜共焦傳感器光筆測頭知識講解與注意事項首先，測頭是可以更換的：同一個控制器多可存儲20個對應于不同的測頭的校準表數據，即可配備20個不同的測頭。其次，測頭是完全無源的：因為它沒有包含熱源和移動部件，所以要避免可能影響傳感器測量過程精度的任何熱膨脹。將測頭連接在控制器上的光纜長可以定做到10m，當整理光纖線時避免將其彎曲成曲率半徑小于20mm的圓弧馬波斯測量科技致力于提供專業的光譜共焦傳感器，期待您的光臨！黑龍江光譜共焦傳感器測量速度

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什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環境干擾，開發了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。江西馬波斯傳感器技術